판매용 중고 ZEISS Gemini #9249507
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판매
ID: 9249507
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
ORSAY Cobra FIB Column
ORSAY MonoGIS Gas injection system
In-lens SE
In-lens EsB
SESI Secondary ion detector
Lens BSE detector
Charge compensator injection needle
SEM Column
Operating system: Windows 7
Monitor: 2" x 19"
Control panel:
Keyboard
With Knobset
Includes:
UPS
Pumps
Chillers
Does not include:
EDS
WDS
EBSD
XEI Evactron Combiclean
TMC Stacis iX Air table
EM Field cancellation system
Cage / Frame.
ZEISS Gemini 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 소규모 영역 분석에서 매우 넓은 영역 샘플 개요에 이르기까지 광범위한 영상을 위해 특별히 설계된 스캐닝 전자 현미경입니다. 그것 은 매우 다양 한 도구 로서, 금속, "플라스틱 ', 유기 물질 등 여러 가지 물질 의 표면 을 상상 하는 데 사용 할 수 있다. 표본의 물리적, 화학적 특성을 자세히 관찰하는 데 SEM을 사용할 수 있습니다. Gemini SEM은 또한 자세한 분석을 위해 고해상도를 가진 이미지 처리 능력을 갖추고 있습니다. SEM은 정전기 렌즈 (electrostatic lens) 를 사용하여 표본에서 방출되는 전자를 이미지 검출기 (image detector) 에 집중시킵니다. 이것은 샘플 표면의 이미지를 생성합니다. ZEISS Gemini SEM (ZEISS Gemini SEM) 은 사용자의 요구에 맞게 이미지를 사용자 정의할 수 있는 다양한 이미징 매개변수를 제공합니다. SEM은 고성능 2 차 전자 (SE) 이미징 및 역 분산 전자 (BSE) 이미징 기능을 모두 제공합니다. SE 이미지는 표본의 표면 지형을 관찰하는 데 적합하며, BSE 이미지는 화학 대비 이미징에 적합합니다. Gemini SEM은보다 자세한 분석 정보를 캡처 할 수 있습니다. 여기에는 통합 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 이 포함되며, 이는 샘플의 원소 조성을 결정하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 SEM에는 입자 분석 (particle analysis), 3D 볼륨 이미징 (3D volume imaging) 과 같은 다양한 자동 이미지 획득 및 분석 기능이 제공됩니다. 이러한 자동 분석 (automated analysis) 기능을 사용하여 샘플의 미세 구조에 대한 정보를 빠르고 쉽게 캡처할 수 있습니다. ZEISS Gemini SEM은 이미징 및 분석을위한 안정적이고 강력한 도구입니다. 또한 사용자 편의성이 높으며, 자동화된 기능을 통해 사용자가 이미지와 데이터를 빠르고 정확하게 캡처할 수 있습니다. 이를 통해 Gemini는 광범위한 분석 및 이미징 요구에 이상적인 도구입니다.
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