판매용 중고 ZEISS EVO 50H #82084

ZEISS EVO 50H SEM (Scanning Electron Microscope) 은 작은 입자를 높은 배율로 이미징, 측정 및 분석하기위한 고성능, 비용 효율적인 솔루션입니다. 트윈 에너지 분산 X- 선 분광계 (EDS) 가 장착되어 있으며, 단일 스캔에서 원소 조성을 동시에 분석합니다. 에보 50H (EVO 50H) 는 또한 광범위한 확대율에서 가장 작은 입자의 입자 크기와 모양을 자동으로 감지하고 측정하는 기능을 갖추고 있습니다. 향상된 성능 외에도, ZEISS EVO 50H는 사용하기 쉽고 직관적이고 프로그래밍 가능한 컨트롤로 설계되었으며, 경험이 풍부한 사용자와 초보자 모두에 적합합니다. 샘플의 설정 및 분석을 위한 직관적인 사용자 인터페이스 (Intuitive user interface for setup and analysis) 는 효율적인 샘플 분석을 지원하기 위해 다목적 및 멀티미디어 상호 작용과 함께 사용하도록 최적화되었습니다. EVO 50H의 고급 기능에는 대형 챔버 (chamber) 가 포함되어 있어 표본 조작, ptychography 및 mapping과 같은 고급 이미징 기술, 자동 이미지 처리가 가능합니다. 첨단 기술에는 고해상도, HD 카메라가 포함되며, 동력 무대와 연계되어 빠르고 정확한 이미지 획득 및 샘플 탐색이 가능합니다. 또한, ZEISS EVO 50H에는 전동 및 자동 초점 기능과 같은 고급 샘플 조작 기능이 포함되어 있으며, 빠르고 안전하며 정확한 샘플 이동이 가능합니다. 마지막으로, EVO 50H 는 데이터 관리 및 분석을 위한 소프트웨어 툴을 갖추고 있으며, 사용자에게 고품질 이미지와 데이터 세트를 생성하여 분석 (analysis) 할 수 있는 기능을 제공합니다. 모든 데이터 분석은 ZEISS EVO 50H (ZEISS EVO 50H) 에 저장되므로 외부 데이터 스토리지가 필요 없으며 데이터 비교를 효율적으로 수행할 수 있습니다. 또한, EVO 50H는 다양한 포스트 프로세싱 옵션 및 이미지 분석 프로그램을 제공하여 효율적인 샘플 특성을 제공합니다. 요약하면, ZEISS EVO 50H Scanning Electron Microscope (ZEISS EVO 50H 스캐닝 전자 현미경) 는 다양한 애플리케이션의 작은 입자를 이미징, 측정 및 분석할 수 있도록 안정적이고 비용 효율적인 고급 도구를 제공합니다. 직관적인 사용자 인터페이스, 고급 이미징 기술, 자동 초점 (auto-focus) 및 샘플 조작 기능, 종합적인 소프트웨어 툴과 함께, 경험이 풍부한 사용자와 초보자 모두에게 종합적인 SEM 솔루션을 제공합니다.