판매용 중고 ZEISS EVO 50 #293830550
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ZEISS EVO 50은 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 주사 전자 현미경 (scanning electron microscope) 은 수 "나노미터 '에서 수" 밀리미터' 크기 의 물체 를 영상 할 수 있게 해 준다. 나노 물질 (nanomaterials) 의 이미징에서 미세 구조 (microsstructures) 와 유기물 (organic materials) 의 분석에 이르기까지 다양한 연구 및 재료 과학 응용 분야에 중요한 도구입니다. 에보 50 (EVO 50) 은 SEM 의 고급 모델로, 최신 기술을 활용하여 고해상도 이미징, 뛰어난 심도, 뛰어난 표면 품질을 제공합니다. 초저가속 및 전자 착륙 전압을 제공하는 최첨단 Schottky field emission gun (FEG) 을 장착하여 뛰어난 해상도와 화질을 제공합니다. 이 총은 또한 저용량 (low-dose) 과 고류 이미징 (high current imaging) 을 모두 수행 할 수 있으므로 효율적인 샘플 조사를 할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 안정적이고 반복 가능한 이미징을위한 고주파, 고대비 음극을 가지고 있습니다. ZEISS EVO 50의 챔버 압력은 2 x 10-5 mbar이며, 진공 및 원자화 조건을 정확하게 조작할 수 있으며, 안정적인 작동에 중요합니다. 또한, 큰 동적 범위 (dynamic range) 로 인해 유기 및 생물학적 물질에서 거시적 물체 및 단단한 얇은 필름에 이르기까지 여러 샘플 유형을 처리 할 수 있습니다. EVO 50에는 고급 이미징 기능을 위해 2 차 전자 (SE) 검출기와 BSE (back scattered electron) 검출기가 장착되어 있습니다. SE 검출기 (Detector) 는 뛰어난 심도를 가진 고대비, 고해상도 이미지를 제작할 수 있어 샘플을 자세히 관찰할 수 있습니다. 반면에, BSE 검출기는 표면 지형을 이미징하고 거시적 (macroscopic) 및 나노 스케일 (nanoscale) 기능의 조성에 이상적이다. 샘플 분석을 용이하게하기 위해 ZEISS EVO 50에는 압전 샘플 홀더, ESEM (Environmental SEM) 챔버 및 드리프트 보상 기능과 같은 고급 샘플 처리 도구가 제공됩니다. 압전 샘플 홀더는 최대 50 kg 무게의 샘플을 지원하고, 다양한 각도를 통해 기울이고 회전할 수 있습니다. ESEM 챔버는 압력 제어 환경 챔버로, 특히 젖은 샘플 및 비 전도성/저전도 샘플의 분석을 수행하도록 설계되었습니다. 마지막으로, 드리프트 보상 (drift compensation) 기능을 통해 기기는 원치 않는 샘플 이동 또는 진동을 줄여 변동하는 환경에서 정확한 데이터 입수를 보장합니다. 전반적으로, EVO 50은 뛰어난 이미징 및 분석 기능을 제공하는 고급, 풍부한 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 과 분석 (analysis) 이 필요한 다양한 연구 및 재료 과학 응용 분야에 이상적인 솔루션입니다.
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