판매용 중고 ZEISS EM 109 #293592393

ID: 293592393
Transmission Electron Microscope (TEM) Wavelength of visible light: 380-750 nm Electron beams Shorter wavelength than visible light Copper grids Contrasted with heavy metal salts Digital camera: Black and white.
ZEISS EM 109는 다양한 응용 분야에서 뛰어난 샘플 영상을 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다양한 이미징 및 분석 기능을 갖춘 고해상도, 저소음 이미징 장비를 갖추고 있습니다. EM 109에는 표준 현미경 해상도 5nm, 옵션 해상도 3nm가 장착되어 있습니다. 이 시스템은 최대 500 미크론의 두께로 샘플의 3 차원 이미지를 생성 할 수 있습니다. ZEISS EM 109는 Windows 10 작동 기계, 액티브 진공 밸브 및 샘플 작동을 위한 디지털 고전압 자동 튜닝 (옵션) 을 갖춘 강력한 컴퓨터 장치를 갖추고 있습니다. 또한 표준 플랫 필드, 다크 필드 및 차동 이미징, 에너지 분산 엑스레이 분광법 (EDS) 과 같은 다양한 자동 분석 작업을 사용하여 샘플 구성 요소를 식별합니다. 또한, 이 기기에는 샘플을 수집하거나 낮은 진공 작동의 이미징을 위해 저진공 이미징 챔버 (옵션) 가 장착되어 있습니다. EM 109에는 샘플 충전으로 인한 이미징 왜곡을 줄이기 위해 균형 잡힌 빔 도구 (balanced beam tools) 와 반사 (reflective) 및 그림자 (shadow) 모드에서 샘플을 스캔하기위한 저진공 챔버 및 반자동 틸트 단계 (semi-automated tilt stage) 옵션이 있습니다. 또한 3D 단층 그래프 (샘플 슬라이스) 를 생성하여 사용자에게 보다 상세한 샘플 시각화를 제공합니다. 또한, 현미경에는 이미지 품질과 성능을 사용자 정의하기 위해 다양한 액세서리 (예: 신틸레이터, 광학 시스템) 가 제공됩니다. 간단히 말해서, ZEISS EM 109는 다양한 응용 분야에서 뛰어난 샘플 영상을 제공하기 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 자산입니다. 고해상도 이미징, 자동 분석 작업, 균형 잡힌 빔 모델, 3D 토모그램, 이미지 품질 및 성능을 사용자 정의하는 액세서리 등을 갖추고 있습니다.
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