판매용 중고 ZEISS Auriga 40 #293774090
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ID: 293774090
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Single GIS
Charge Compensator
Plasma Cleaner
Nanomanipulator
Detectors:
STEM
SESI
InLens SE
EsB.
ZEISS Auriga 40은 현미경 솔루션의 유명한 리더 인 ZEISS가 설계하고 제조 한 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. Auriga 40 (Auriga 40) 은 다목적 고성능 기기로, 연구 및 업계의 다양한 애플리케이션을 위한 고급 이미징 기능을 제공합니다. ZEISS 오리가 40 (ZEISS Auriga 40) 의 중심에는 혁신적인 전계 방출 전자원이 있으며, 이는 뛰어난 밝기와 안정성을 갖춘 매우 일관된 전자 빔을 제공합니다. 이것은 뛰어난 명암과 최소 빔 드리프트 (beam drift) 를 갖춘 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 가능하게 하며, 복잡한 디테일과 미세한 구조를 가진 이미징 샘플에 적합합니다. 오리가 40 (Auriga 40) 의 주요 특징 중 하나는 고급 스캐닝 기능이며, 여기에는 고속 스캐닝 및 전자 빔에 대한 정확한 제어가 포함됩니다. 이를 통해 사용자는 이미지를 빠르고 정확하게 얻을 수 있으며, 이를 통해 나노 스케일 (nanoscale) 수준의 샘플을 자세히 시각화할 수 있습니다. ZEISS Auriga 40은 또한 샘플의 구성 및 형태에 대한 귀중한 정보를 제공하는 2 차 전자 영상, 역 산란 전자 영상 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을 포함한 다양한 이미징 모드를 제공합니다. 이미징 기능 외에도, Auriga 40 은 다용도, 사용자 친화적 소프트웨어 인터페이스를 갖추고 있어 이미지 매개 변수를 손쉽게 제어, 사용자 정의할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 획득한 데이터의 분석 및 측정을위한 고급 이미지 처리 도구 (Advanced Image Processing Tools) 를 제공하여 연구원들이 샘플에서 귀중한 정보를 추출할 수 있습니다. ZEISS Auriga 40은 여러 축의 움직임 (movement) 을 가진 고성능 표본 단계를 특징으로하며, 이미징 중 샘플의 정확한 위치화 및 조작이 가능합니다. 이것은 특히 실시간 샘플 조작이 필요한 경우 복잡한 형상을 가진 샘플을 연구하거나 현장 내 실험 (in-situ experiment) 을 수행하는 데 유용합니다. Auriga 40의 또 다른 주요 장점은 전도성 (conductive) 및 비전도성 (non-conductive) 재료를 포함한 다양한 샘플 유형과의 호환성입니다. 이러한 유연성을 통해 사용자는 특별한 샘플 준비 기술이 필요하지 않은 다양한 샘플을 이미지화할 수 있으므로 ZEISS Auriga 40 (ZEISS Auriga 40) 을 다양한 응용 프로그램을위한 다용도 도구로 만들 수 있습니다. 또한, Auriga 40 은 사용자 편의성, 안전성을 염두에 두고 설계되었으며, 다양한 자동 기능 및 안전 프로토콜을 통해 사용자/샘플의 성능/보호 수준을 최적화할 수 있습니다. 이 기기는 또한 ZEISS Auriga 40의 장기 기능을 보장하기 위해 ZEISS 유명 서비스 및 지원 네트워크 (Service and support Network) 에서 지원됩니다. 결론적으로 Auriga 40은 최첨단 스캔 전자 현미경으로, 뛰어난 이미징 기능, 고급 스캔 옵션, 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스, 다목적 샘플 호환성 및 안정적인 성능을 제공합니다. ZEISS Auriga 40은 학술 연구, 산업 품질 관리 또는 재료 분석에 사용되는지 여부 (ZEISS Auriga 40) 는 탁월한 명확성과 디테일로 마이크로, 나노 세계에 대한 귀중한 통찰력을 제공 할 수있는 강력한 도구입니다.
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