판매용 중고 ZEISS 10A #293635771

ZEISS 10A Scanning Electron Microscope는 미세한 구조를 조사하는 데 사용되는 고급 장치입니다. 전자 기둥, 전자 빔을 생산하기위한 구성 요소, 기화 샘플을위한 샘플 챔버 (sample chamber) 로 구성됩니다. 전자 기둥은 공통 축을 중심으로 회전하며 2 개의 콘덴서 렌즈, 웨넬 트 캡 (Wehnelt cap) 및 침수 대상 렌즈 (immersion objective lens) 를 포함하여 매우 단단한 수렴에서 하향 방향 전자 빔을 집중하고 유지합니다. 이렇게 하면 넓은 시야로 샘플을 정확하게 스캔할 수 있습니다. 샘플 챔버에는 샘플 플랫폼과 진공 제어 시스템이 포함되어 있습니다. 샘플 플랫폼은 섭씨 3,000 도까지의 온도로 가열 될 수 있으며, 이는 챔버 내에서 진공 상태를 유지하면서 유기 및 생물학적 샘플을 증발시키는 데 사용됩니다. 그 다음 에 연구 되고 있는 "샘플 '위 에 전자" 빔' 이 주사 되는데, 전자 는 원자 에 흡수 되거나 다시 탐지기 에 반사 된다. 반사 된 전자는 기록 된 후, 표본의 상세한 미세 구조를 보여주는 샘플 (sample) 의 이미지로 변환된다. 10A는 종종 표면 지형, 곡물 크기, 결정 구조 (crystal structure) 와 같은 샘플의 기계적, 물리적, 화학적 특성을 조사하는 데 사용됩니다. 또한 전기 및 전자 부품의 고장 관찰을위한 귀중한 도구입니다. 마지막으로, ZEISS 10A는 또한 2 차 전자 및 역 산란 전자 영상을 생성 할 수있다. 시료의 표면에서 2 차 전자가 샘플의 지형 이미지를 생성하는 반면, 역 흩어진 전자는 시료 내의 더 깊은 영역에서 검출되고, 시료의 화학적 조성 (chemical composition) 과 같이 연구되는 물질의 특징적인 특성을 생성한다.