판매용 중고 TOPCON SM 350 #9257166

TOPCON SM 350은 고해상도의 샘플을 이미징 및 분석하도록 설계된 TOPCON Precision Instruments의 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 모델은 최고의 세부 사항까지 이미징할 수 있는 다양한 기능과 기능을 제공합니다 (영문). SM 350은 표본의 고해상도 이미징을 제공하도록 설계되었습니다. 저전압 전계 방출원 (low-voltage field emission source) 을 갖추고 있으며, 최대 5000 시간의 매우 긴 전자원 수명을 제공하여 표본의 높은 명암과 장기적인 영상을 가능하게합니다. 이 SEM 모델은 최대 200kV/3kV에서 작동하여 샘플을 정확하게 분석 할 수 있습니다. SEM에는 환경 스캔 전자 현미경 (ESEM) 옵션이 있습니다. 이 기능은 높은 진공에 민감하고 전자빔 조사 (electron beam irradiation) 로 인해 가스를 생성하는 표본의 영상을 허용합니다. SEM은 높은 진공 모드 (high vacuum mode) 또는 낮은 진공 모드 (low vacuum mode) 로 작동하여 선택한 샘플에 가장 적합한 조건을 제공합니다. TOPCON SM 350은 C, O, S, N, H 및 B, Cl 및 Si와 같은 요소 그룹을 포함한 다양한 원소 종을 감지 할 수 있습니다. 두 개의 검출기가 있습니다. 표본의 화학적 조성 및 표면 지형에 대한 정보를 제공하기 위해 2 차 전자 검출기 (secondary electron detector) 와 역 흩어진 전자 검출기 (backscattered electron detector). 또한 CET (cryogenic energy transfer) 머신과 함께 제공되어 특정 온도 변조를 샘플링할 수 있습니다. SEM 은 매우 사용하기 쉽습니다. 소프트웨어 인터페이스는 사용자 친화적이며 다양한 이미지 (imaging) 옵션과 기능을 제공합니다. 자동화된 스테이지 (stage) 를 갖추고 여러 표본과 샘플 준비를 신속하게 수행할 수 있습니다. 또한 SM 350을 사용하면 이미징 및 분석 설정을 쉽게 저장하고 복원할 수 있습니다. TOPCON SM 350은 작은 샘플에서도 뛰어난 성능과 화질을 제공합니다. 혁신적인 기능과 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 을 통해 이미지 처리 및 연구 응용프로그램을 위한 탁월한 툴을 제공합니다.