판매용 중고 TOPCON SM 300 #9220578

TOPCON SM 300은 뛰어난 화질을 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 전자광학 (Electron Optics) 과 스캐닝 스테이지 (Scanning Stage) 기술을 활용하여 매우 선명하게 작은 물체의 고해상도 이미지를 생성합니다. SM 300은 이미징을 위한 광범위한 확대 (5배, 최대 300,000배) 기능을 제공합니다. "나노미터 '해상도 를 가진 세부적 인 특징 으로 매우 깊이 있는" 이미지' 를 만들어 낼 수 있다. 이 기능을 사용하면 원자 수준에서 이미징 (Imaging) 을 수행할 수 있으며, 광범위한 재료를 자세히 검사하고 분석할 수 있습니다. TOPCON SM 300이 사용하는 전자 총 (electron gun) 은 에너지 필터링되어 연구원들이 전자 빔의 에너지를 조작하여 더 높은 품질의 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이 피쳐를 사용하여 더 많은 세부 (detail) 레벨을 얻을 수 있으며, 서피스 미세 구조 (surface micructure) 및 그레인 경계 (grain boundary) 와 같은 소규모 피쳐를 검토할 수 있습니다. SM 300은 10 ~ 100 피코미터의 작은 입자를 감지 할 수있는 매우 민감한 검출기를 사용합니다. 이를 통해 연구원들은 매우 높은 정밀도로 특징을 구별 할 수 있으며, 샘플에 대한 정량적인 정보를 얻을 수 있습니다. 이 장치는 또한 자동 (automated) 이미지 처리 메커니즘을 갖추고 있으며, 이를 통해 연구자들은 스캐너에서 얻은 데이터를 빠르고 정확하게 평가할 수 있습니다. 이 장치에는 고해상도 (High Resolution) 스테이지가 장착되어 있어 샘플의 원형 스캐닝이 가능하므로 대용량 이미지를 단시간 내에 수집할 수 있습니다. TOPCON SM 300은 또한 넓은 샘플 (sample) 영역에 매우 작은 기능을 매핑하여 사용을 다차원 연구로 확대 할 수 있습니다. 강력한 자동 데이터 분석 시스템 (Automated Data Analysis System) 이 장착되어 있어 연구원들이 샘플에 대한 분석 및 평가를 신속하게 수행할 수 있습니다. SM 300에서 얻은 세부 사항은 샘플의 형태, 구성 및 구조를 매우 정확하게 평가하는 데 사용될 수 있습니다. 그 에 더하여, "나노스케일 '물질 을 연구 하는 데 사용 될 수 있으며, 여러 분야 에서 새로운 물질 을 연구 하는 데 사용 될 수 있다.