판매용 중고 TOPCON MI-3080 #293610473

TOPCON MI-3080
ID: 293610473
웨이퍼 크기: 6"
CD Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 6" Missing parts.
TOPCON MI-3080 주사 전자 현미경 (SEM) 은 나노미터 척도에서 물체의 현미경 및 분석에 사용되는 강력한 도구입니다. MI-3080 은 고해상도 디지털 이미징 (Digital Imaging) 기능과 재료 연구 (Materials Research) 의 고급 기능을 통해 다양한 분야의 과학자와 엔지니어들을 위한 강력한 도구입니다. TOPCON MI-3080은 광각 필드 렌즈를 특징으로하여 샘플의 빠르고 매크로 이미징을 허용합니다. 또한 나노 미터 스케일 이미지를 캡처 할 수 있으며, 작은 입자와 미세한 구조의 상세한 특성화에 이상적입니다. MI-3080은 에너지 필터를 사용하여 전자 에너지를 제어하고 이미지 해상도를 최적화합니다. SEM은 거의 100 개 파트너의 감지 효율을 가지고 있으며, 이는 정확하고 반복 가능한 결과에 필수적입니다. 결정적으로 TOPCON MI-3080은 내장 이미지 프로세서, 인수 소프트웨어 등 다양한 소프트웨어 기능을 자랑합니다. 따라서 데이터를 빠르고 편리하게 수집, 분석, 공유할 수 있습니다. 또한, MI-3080은 온도와 습도를 조절하여 민감한 생물학적 샘플 분석을 가능하게합니다. TOPCON MI-3080의 핵심은 재 설계된 스캐닝 자기 렌즈 (scanning magnetic lens) 및 고급 디지털 이미징 시스템입니다. 이를 통해 40 배 확대, 강력한 디지털 확대 및 최대 30,000X의 확대가 가능합니다. 이것은 샘플을 자세히 조사해야하는 연구원에게 이상적입니다. MI-3080은 또한 초고해상도 쇼트키 유도 분석기 (Schottky Inductive Analyzer) 와 같은 다양한 전자 검출기를 제공하여 정확한 화학 분석을 가능하게합니다. TOPCON MI-3080 은 뛰어난 이미지 해상도를 제공하며 최대 1.0nm 의 해상도로 완전히 개발된 이미지를 제작할 수 있습니다. 또한 첨단 냉각 및 필터 시스템 (Advanced Cooling and Filter System) 은 캡처되는 이미지가 가능한 한 선명하고 정확한지 확인합니다. 또한 MI-3080 은 고속 데이터 수집을 지원하므로 샘플 준비 및 분석에 필요한 시간을 줄일 수 있습니다. 전반적으로 TOPCON MI-3080 (TOPCON MI-3080) 은 작고 작은 샘플에 대한 상세한 고해상도 이미지를 생성 할 수있는 고급형 기기입니다. 나노 미터 스케일 (nanometer scale) 에서 샘플의 구조 및 재료 특성을 분석하고 해석하는 편리하고 효율적인 방법을 제공하며, 다양한 분야의 연구자들에게 귀중한 도구입니다.
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