판매용 중고 TOPCON DS 720 #9407852

TOPCON DS 720은 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로 다양한 샘플 재료의 고해상도 이미징 및 분석을 제공합니다. 이 도구는 나노 스케일 이미징 (nano-scale imaging) 에서 야금 표면 분석 (metallurgical surface analysis) 에 이르기까지 다양한 분석 작업에 적합합니다. DS 720은 Schottky field emission (FEI) 전자를 사용하여 샘플 재료의 고해상도 영상을 허용합니다. 이 전자 소스는 매우 안정적이고 균일하며, 기록 된 이미지에서 신호 대 잡음 비율을 개선 할 수 있습니다. 또한, TOPCON DS 720은 가변 압력 이미징 챔버 (variable pressure imaging chamber) 를 특징으로하여 샘플에 다양한 압력을 가할 수 있습니다. 이 가변 압력 시스템 (Variable Pressure System) 은 이미징되는 샘플의 유형에 따라 여러 다른 대기 조건에서 이미징을 허용합니다. 또한, 이 기기의 필드 방출 건 (field emission gun) 에는 활성 온도 및 방출 전류 안정화 시스템 (emission current stabilization system) 이 포함되어 이미징 노이즈를 더욱 줄이는 데 도움이됩니다. DS 720 은 최대 20,480x 의 매우 광범위한 확대 설정을 제공합니다. 이는 분석을 수행 할 때 매우 유연합니다. 이 전기 및 자기장 안내 열은 일련의 닫힌 루프 제어 시스템 (closed-loop control system) 에 의해 구동되므로 설정을 변경할 때 정확합니다. 또한, 이 열은 광범위한 설정에서 매우 효율적이며, 미드레인지 (Mid-Range) 배율에 최적화된 미러링이 있습니다. 또한, 이 장비에는 나노 미터 스케일에서 영상화를 위해 설계된 STEM 검출기가 장착되어 있습니다. 이 기기는 또한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 Auger 전자 분광법 (STEM-AES) 과 같은 다양한 원소 분석 기술을 할 수 있습니다. 이러한 도구를 사용하여, 사용자는 원소 구성 및 구조에 대한 샘플 재료를 빠르고 정확하게 분석 할 수 있습니다. TOPCON DS 720 (TOPCON DS 720) 은 사용자에게 다양한 분석 및 이미지 처리 작업을 위한 매우 강력한 장비를 제공합니다. 첨단 제어 시스템 (Advanced Control System) 과 이미징 시스템 (Imaging System) 은 나노 스케일 해상도에서 재료의 상세한 분석 및 이미징을 가능하게 합니다. 이 도구와 함께 다양한 요소 분석 (elemental analysis) 기술을 사용할 수 있으며, 이를 통해 분석 능력을 더욱 확장할 수 있습니다. DS 720 은 연구 및 산업 애플리케이션 모두에 적합한 선택입니다.