판매용 중고 TOPCON ABT-60 #9025529

TOPCON ABT-60은 다양한 분석 및 연구 응용 분야에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 기구 는 전자 "빔 '을 사용 하여" 나노스케일' 에 있는 것 들 을 포함 하여 매우 작은 물체 의 "이미지 '를 발생 시킨다. 전자 빔 (electron beam) 은 매우 복잡한 자석 (magnet) 및 기타 컴포넌트 시스템에 의해 가속 (accelerated) 되고 목표 표면에 집중되는 전자로 구성됩니다. 전자가 표면을 폭격함에 따라, 검출 및 분석되는 2 차 전자 방출을 생성한다. 이 SEM은 사용 가능한 최고 해상도 이미지 중 일부를 생성하며, 작은 면적에서 최대 해상도는 최대 0.5 나노미터 (0.5 나노미터) 입니다. 2,400 x 1,400 x 1,900 mm의 비교적 큰 크기에도 불구하고 작은 기능 분석에 매우 효과적입니다. 게다가, 그것의 확대, 시야, 초점 깊이는 모두 조절 가능하여, 광범위한 분석 작업에 가장 다양한 SEM 중 하나입니다. ABT-60의 고급 광학은 이미지에 대한 깊이와 선명도를 만들어내며, 최소 10% 의 대비를 제공합니다. 또한 최대 10 나노 미터의 추적 요소를 감지 할 수 있습니다. 2 차 전자는 전도성 표면을 감지하고 분석 할 수있는 반면, 가변 압력 챔버 (variable-pressure chamber) 는 비전도 표면에 대한 최고의 해상도와 영상을 제공 할 수 있습니다. TOPCON ABT-60은 사용자 친화적 인 기능과 높은 스트레스 환경에서도 안정적인 성능으로 잘 알려진 SEM입니다. 매우 직관적인 인터페이스로 초보자도 쉽게 작동 할 수 있습니다. 또한, 고속 처리 (high-speed processing) 는 대규모 데이터 세트를 신속하게 분석 할 수 있으므로 교육 및 연구 애플리케이션 모두에 이상적입니다. 또한 데이터 다운로드 자동화 (Automated Data Downloading) 기능을 통해 대규모 데이터 파일을 최소한의 노력으로 신속하게 전송할 수 있습니다. 전반적으로, ABT-60은 광범위한 응용을위한 고급 스캐닝 전자 현미경 설계로, 탁월한 해상도와 정확도를 제공합니다. 이 인터페이스의 특징과 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface) 는 이 강력한 도구를 모든 실험실 또는 연구 기관에 추가하는 것을 환영합니다.