판매용 중고 TOPCON ABT-32 #9293066

ID: 9293066
Scanning Electron Microscope (SEM).
TOPCON ABT-32는 TOPCON Corporation에서 생산 한 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 모델은 뛰어난 분석 기능을 갖춘 고해상도 이미징 성능을 제공하는 중급형 SEM 입니다. 이 장비에는 고급 디지털 이미징 시스템, 최대 이미지 품질을위한 란타 넘 헥사 보라이드 (Lanthanum hexaboride) 필드 방출 소스, 다목적 자동 표본 단계, 다양한 액세서리가 포함됩니다. ABT-32는 나노 미터 스케일 (최대 해상도 1.2 nm) 로 표본을 이미징 할 수있다. 내장 디지털 이미징 장치는 뛰어난 이미지 선명도를 제공하며 2.8 MP CCD 카메라를 갖추고 있으며 밝은 필드, 어두운 필드, BEI (backscattered electron imaging) 및 SEI (secondary electron imaging) 를 포함한 다양한 이미징 모드를 제공합니다. 자동화된 표본 단계 (automated samimen stage) 를 통해 샘플의 넓은 영역을 이미지화하거나, 특정 영역에 초점을 맞출 수 있습니다. 이 기계에는 원소 분석을위한 자동 분광계도 포함되어 있습니다. 여기에는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDX) 및 X- 선 광전자 분광법 (XPS) 과 같은 다양한 초소형 분석 기술이 포함됩니다. 이 특징은 샘플의 화학적 조성을, 질적, 정량적으로 식별하는 데 사용될 수있다. TOPCON ABT-32는 샘플 홀더 및 오브젝티브 렌즈를 포함한 다양한 액세서리와도 호환됩니다. 렌즈 선택에는 최소 0.2 NA 최대 5.0 NA의 높은 숫자 조리개 (NA) 렌즈가 포함됩니다. 이 렌즈는 고배율 이미지를 제작하거나 고해상도 세부 (Details) 를 측정하는 등 다양한 이미징 작업에 사용할 수 있습니다. 전체 ABT-32는 뛰어난 중급 스캐닝 전자 현미경으로, 뛰어난 이미징 성능, 다양한 기능 및 탁월한 분석 기능을 제공합니다. 세엠 (SEM) 은 산업, 학계, 연구, 교육 분야에서 다양한 응용 분야에 적합합니다.
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