판매용 중고 THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Verios G4 #293800547

FEI는 PHILIPS 및 THERMO FISHER SCIENTIFIC과 협력하여 고해상도 이미징 및 분석 기능의 최신 향상을 나타내는 THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI VerIos G4 Scanning Electron Microscope (SEM ocE ocE copE E E E E E E E e) 를 도입했습니다. FEI Verios G4는 연구원들에게 뛰어난 선명도와 정밀도로 나노 스케일 구조 및 재료를 조사하기위한 강력한 도구를 제공하도록 설계되었습니다. PHILIPS Verios G4 SEM의 주요 기능 중 하나는 초고해상도 기능으로, 나노미터 이하의 이미징 및 분석 성능을 제공합니다. 이것은 FEG (Field Emission Gun) 전자 소스를 통합함으로써 가능하며, 이는 뛰어난 밝기와 안정성을 가진 고도로 집중된 전자 빔을 제공합니다. 베리오스 G4 (Verios G4) 는 뛰어난 디테일과 명암비를 가진 이미지를 제작할 수 있으며, 연구자들은 원자 척도에서 샘플을 시각화하고 분석 할 수 있습니다. THERMO FISHER SCIENTIFIC VERIOS G4에는 다양한 이미징 및 분석 기술이 가능한 고급 감지 시스템이 장착되어 있습니다. 높은 신호 대 잡음 이미징을위한 ETD (Everhart-Thornley Detector) 와 표면 민감성 이미징을위한 IB-SE (In-Beam Secondary Electron) 검출기가 특징입니다. 또한 THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4는 샘플의 원소 분석 및 결정 학적 특성화를 위해 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 에 대한 옵션을 제공합니다. 성능 측면에서 FEI Verios G4 SEM은 높은 처리량과 생산성에 최적화되어 있습니다. 빠른 빔 스캐닝 시스템 (Rapid Beam Scanning System) 을 통해 사용자 개입을 최소화하면서 대용량 샘플 영역을 신속하게 수집하고 매핑할 수 있습니다. 또한 SEM 은 정교한 자동화/이미지 처리 소프트웨어를 통합하여 데이터 분석/해석을 위한 능률적인 워크플로우 (workflow) 를 지원합니다. 필립스 베리오스 G4 (PHILIPS Verios G4) 는 사용자 친화적인 제어 기능 및 직관적인 소프트웨어 인터페이스를 통해 손쉽게 작동하고 실험할 수 있도록 설계되었습니다. 이 시스템에는 다양한 샘플 유형 및 분석 요구 사항을 수용하기 위해 고해상도 이미징 (high-resolution imaging), 저전압 이미징 (low-voltage imaging), 빔 감속 이미징 (beam deceleration imaging) 과 같은 다양한 이미징 모드가 장착되어 있습니다. 또한 SEM은 이미지 개선, 정량화, 3D 재구성을 위한 고급 이미지 처리 도구를 제공합니다. Verios G4 SEM은 재료 과학, 생명 과학, 나노 기술, 반도체 기술 등 분야의 연구 및 산업 응용을 위해 제작된 강력하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 고성능 기능은 나노 입자, 폴리머, 생물학적 표본, 반도체 장치 등 다양한 샘플을 연구하는 데 적합합니다. 결론적으로 THERMO FISHER SCIENTIFIC VERIOS G4 Scanning Electron Microscope는 나노 스케일 이미징 및 분석을위한 최첨단 플랫폼을 나타냅니다. 초고해상도 이미징 기능, 다목적 감지 시스템 및 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4는 연구원들에게 전례없는 선명성과 디테일로 미세 세계를 탐험하기위한 강력한 도구를 제공합니다.