판매용 중고 THERMO FISHER SCIENTIFIC / FEI Nova NanoSEM 430 #293799505

ID: 293799505
빈티지: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM) Power rack Operating system: Windows XP Right side panel missing 2009 vintage.
THERMO FISHER SCIENTIFIC/FEI Nova Nano SEM 430은 다양한 과학 및 산업 응용 분야에서 광범위한 샘플의 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 최첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 고급 기기는 혁신적인 기술과 뛰어난 성능 기능을 결합하여 나노 스케일 (Nanoscale) 수준에서 고품질의 이미징, 원소 분석, 재료 특성을 제공합니다. FEI Nova Nano SEM 430은 하이 빔 전류를 제공 할 수있는 필드 방출 전자 소스 (field emission electron source) 를 특징으로하며, 뛰어난 명암과 선명도를 가진 샘플의 빠르고 고해상도 이미징을 가능하게합니다. 이 기기는 2 차 전자 영상, 역 산란 전자 영상 및 원소 분석을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을 포함하여 이미징 모드에서 높은 유연성을 제공합니다. 이 장비에는 에버 하트-손리 (Everhart-Thornley) 검출기, 열 내 검출기, 솔리드 스테이트 EDS 검출기 등 다양한 검출기가 장착되어 있으며, 이를 통해 사용자는 조사 대상 샘플에 대한 포괄적 인 정보를 얻을 수 있습니다. THERMO FISHER SCIENTIFIC Nova Nano SEM 430의 주요 강점 중 하나는 뛰어난 이미징 해상도이며, 몇 나노미터 정도의 기능을 해결할 수 있습니다. 이 고해상도는 첨단 전자광학 (Electron Optics) 설계와 정교한 이미징 알고리즘을 통해 이루어지며, 가장 까다로운 샘플까지 상세하게 이미징할 수 있습니다. 이 기기는 또한 넓은 시야 (field of view) 를 제공하여 사용자가 정확성과 효율성이 높은 광범위한 샘플 영역의 이미지를 캡처 할 수 있습니다. Nova Nano SEM 430은 이미징 기능 외에도 EDS를 통한 요소 분석에서 뛰어납니다. 이 시스템은 고급 EDS (Advanced EDS Detector) 를 통합하여 샘플 내의 요소를 정확하게 식별하고 정량화할 수 있는, 요소 맵과 스펙트럼을 효율적으로 생성할 수 있습니다. 이 기능은 재료 과학, 지질학, 생명 과학 및 기타 원소 특성 및 화학 분석이 필요한 연구 분야에 특히 중요합니다. 이 기기의 사용자 친화적 인 인터페이스와 직관적인 소프트웨어는 원활한 운영 및 데이터 해석을 촉진합니다. THERMO FISHER SCIENTIFIC/FEI Nova Nano SEM 430은 실험의 특정 요구 사항을 충족시키기 위해 쉽게 사용자 정의 할 수있는 여러 이미지 및 분석 모드를 제공합니다. 이 소프트웨어에는 자동 이미징 루틴, 이미지 스티칭 (image stitching), 3D 재구성, 획득한 데이터를 심층적으로 분석하는 데이터 처리 도구 등의 고급 기능도 포함되어 있습니다. 또한, FEI Nova Nano SEM 430에는 이미징 및 분석 중 정확한 샘플 포지셔닝 및 조작이 가능한 고급 스테이지 유닛이 장착되어 있습니다. '동력화 단계 (Motorized Stage)' 를 통해 넓은 샘플 영역을 검사하고, 여러 이미지를 수집하며, 재현성과 정확도가 높은 자동화된 데이터 수집을 수행할 수 있습니다. 전체적으로 THERMO FISHER SCIENTIFIC Nova Nano SEM 430은 강력하고 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 과학 및 산업 응용 분야에 최첨단 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 뛰어난 해상도, 고급 EDS 기계, 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface) 로이 기기는 나노 월드 (nanoworld) 를 탐색하고 원자 및 분자 수준에서 재료의 복잡성을 풀려고하는 연구원, 엔지니어 및 분석가들에게 이상적입니다.
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