판매용 중고 TESCAN Vega II #293647242

TESCAN Vega II는 광범위한 표면 지형, 조성 및 표면 특성을 이미징 및 분석하기 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 2 차 전자와 백스캐터링 된 전자를 동시에 수집 할 수있는 이중 탐지 탐지기 (dual detectional detector) 가 장착되어 질적 (qualitative) 및 양적 (quantitative) 특성을 모두 수행 할 수 있습니다. 즉, 고해상도 이미징 기능을 통해 샘플을 자세히 파악할 수 있습니다. 그것은 SEM의 유연성을 증가시키는 ESEM (환경 SEM) 검출기를 특징으로하여 대기 조건에서 선명하고, 손상되지 않은, 수화 된 샘플을 분석 할 수 있습니다. TESCAN VEGA-II는 텅스텐 필라멘트 전자원을 가지고 있으며, 최대 15kV의 가속 전압을 제공합니다. 3차원 현장 방출 이미지 (Field Emission Image) 프로세서가 장착되어 있어 고화질 이미징과 작은 기능의 해상도를 제공합니다. 사용이 편리하고 직관적인 소프트웨어를 통해 작업을 간소화할 수 있지만, 다양한 이미지 분석 툴을 제공합니다. 베가 II (Vega II) 에는 자동 스테이지 및 모터 포커싱이 있으며, 이를 통해 사용자가 이미징 중에 샘플을 쉽게 이동하고 조정 할 수 있습니다. 또한, 통합 나노 (nanoprober) 시스템은 접근성을 증가시켜 샘플의 피쳐를 정확하게 측정하기가 훨씬 쉽습니다. 전반적으로 VEGA-II는 강력하고 신뢰할 수있는 분석 이미징 도구입니다. 최첨단 기능과 사용자 친화적 인 디자인 (User-Friendly Design) 을 통해 샘플의 구조, 구성, 표면 특성에 대한 통찰력을 얻기 위해 연구자와 엔지니어에게 이상적인 선택이 가능합니다.