판매용 중고 TESCAN MIRA-3 BN Kit B #293743038

* * TESCAN MIRA-3 BN Kit B: Scanning Electron Microscope에 대한 포괄적 인 개요 * * MIRA-3 BN Kit B는 광범위한 과학 및 산업 응용 분야에 대한 탁월한 이미지 처리 기능과 분석 성능을 제공하는 최첨단 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 기술과 최첨단 기능을 갖춘 TESCAN MIRA-3 BN Kit B는 뛰어난 정확성과 효율성을 갖춘 고해상도 이미징, 요소 분석, 3D 특성을 제공하도록 설계되었습니다. MIRA-3 BN Kit B는 높은 밝기와 안정성을 제공하는 고성능 FEG (Field Emission Gun) 전자 소스를 갖추고 있어 뛰어난 이미징 품질과 샘플 대비를 제공합니다. 작동 전압 범위가 200V ~ 30kV인 현미경은 전도성 (conductive) 에서 전도성 (non-conductive) 물질에 이르기까지 다양한 샘플을 이미징하는 데 탁월한 다용성 및 유연성을 제공합니다. TESCAN MIRA-3 BN Kit B의 주요 하이라이트 중 하나는 고급 전자 감지 시스템이며, 여기에는 정교한 BSE (backscattered electron) 검출기, 2 차 전자 (SE) 검출기 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 시스템이 포함됩니다. 이 검출기는 공간 해상도 및 민감도가 높은 샘플의 정확한 이미징 (imaging) 및 원소 분석 (elemental analysis) 을 가능하게하며, 이를 통해 연구자들은 샘플의 구성과 구조에 대한 자세한 정보를 얻을 수 있습니다. 또한, MIRA-3 BN 키트 B에는 혁신적인 빔 감속 모드가 장착되어 있으며, 이를 통해 빔 에너지를 줄여 저전압 및 고해상도 이미징을 위한 이미징 조건을 최적화 할 수 있습니다. 이 기능은 이미지 품질이나 샘플 무결성 (Sample Integrity) 을 저해하지 않고 민감하고 빔에 민감한 샘플을 이미징하는 데 특히 유용합니다. TESCAN MIRA-3 BN Kit B의 또 다른 주목할만한 특징은 전동 x-y 단계, z-piezo 단계 및 5 축 전동 틸트 회전 단계를 포함하는 고급 단계 디자인입니다. 이러한 단계를 통해 정확한 샘플 포지셔닝 및 조작이 가능하며, 다양한 각도의 샘플 이미징과 종합적인 3D 특성 및 분석을 위한 방향 (orientation) 을 용이하게 합니다. 또한 MIRA-3 BN Kit B는 CL (Cathodoluminescence) 이미징, EBSD (Electron Backscatter diffraction) 매핑 및 전자 단층 촬영과 같은 다양한 옵션 액세서리 및 분석 도구와 호환되며 고급 이미징 및 분석 작업에 대한 기능을 더욱 향상시킵니다. 또한 TESCAN MIRA-3 BN Kit B는 직관적이고 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스를 제공하여 편리하게 현미경을 제어하고, 이미지를 수집하고, 데이터를 분석할 수 있습니다. 소프트웨어 패키지에는 강력한 이미징 및 분석 도구 (예: 이미지 스티칭, 자동화된 이미지 획득, 정량화된 이미지 분석) 가 포함되어 있어 연구원들이 샘플에서 유용한 정보를 효율적으로 추출할 수 있습니다. 결론적으로, MIRA-3 BN Kit B는 광범위한 과학 및 산업 응용 분야에 대한 뛰어난 이미징 기능, 분석 성능 및 다재다능성을 제공하는 최첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 고급 기술, 혁신적인 기능, 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 TESCAN MIRA-3 BN Kit B는 고품질 이미징 및 분석 솔루션을 원하는 연구원과 업계 전문가에게 최고의 선택입니다.