판매용 중고 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI 9800 #293720519

ID: 293720519
빈티지: 1996
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) 1996 vintage.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 9800은 나노 스케일 구조의 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 최첨단 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 기술을 정밀 엔지니어링과 결합하여 나노기술 (Nanotechnology) 연구 및 개발 분야에서 탁월한 성능을 제공합니다 (영문). SEIKO SMI 9800 중심에는 나노 미터 스케일 정밀도로 전자의 집중된 빔을 생성하는 고해상도 전자 빔 소스가 있습니다. 이 전자 빔 (electron beam) 은 분석 중인 샘플의 표면을 가로 질러 스캔되어, 원자 수준에서 샘플의 지형 및 조성을 상세하게 이미징 할 수 있습니다. SII NANOTECHNOLOGY SMI 9800 (SII NANOTECHNOLOGY SMI SMI 9800) 에는 뛰어난 선명도와 해상도로 이미지를 캡처 할 수있는 다양한 정교한 탐지기가 장착되어 있으며, 연구원은 전례없는 정확도로 나노 구조의 세부 사항을 연구 할 수 있습니다. SMI 9800 의 주요 특징 중 하나는 다양한 샘플을 이미징하는 데 있어 다용성과 유연성입니다 (영문). 반도체 장치, 생물학적 샘플, 또는 재료 과학 표본을 분석하든, 이 SEM 은 다양한 샘플 크기와 모양을 쉽게 수용할 수 있습니다. 이 기기의 동력 단계 (motorized stage) 는 샘플의 정확한 위치 지정 및 조작을 가능하게 하며, 이를 통해 사용자는 다양한 각도와 시각에서 이미지를 캡처하여 종합적인 분석을 수행할 수 있습니다. 고해상도 이미징 외에도 SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 9800은 샘플의 화학적 구성 및 원소 분포를 특성화하기위한 고급 분석 기능을 제공합니다. SEM에는 전자 빔과의 상호 작용에 따라 방출되는 특성 X- 선을 분석하여 샘플의 원소 조성을 감지하고 정량화 할 수있는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 검출기가 장착되어 있습니다. 이를 통해 연구자들은 샘플에 존재하는 다른 요소를 식별하고, 표면에 걸친 분포를 예외 민감도, 정확도로 매핑 할 수 있습니다. 또한 SEIKO SMI 9800 은 데이터 수집 및 분석 시 사용 편의성과 효율성을 위해 설계되었습니다. 이 장비에는 직관적인 소프트웨어가 장착되어 있어, 사용자가 이미징 매개변수를 제어하고, 데이터를 수집하고, 사용자 친화적 (user-friendly) 인터페이스를 통해 고급 이미지 처리 및 분석을 수행할 수 있습니다. 이를 통해 연구자들은 나노 물질 (nanomaterials) 의 구조와 특성에 대한 귀중한 통찰력을 빠르고 효율적으로 얻을 수 있으며, 나노 기술 (nanotechnology) 의 다양한 분야에서 연구와 혁신의 속도를 가속화 할 수 있습니다. 전반적으로, SII NANOTECHNOLOGY SMI 9800은 스캐닝 전자 현미경 영역에서 엔지니어링 우수성과 기술 혁신의 정점을 나타냅니다. 고해상도 이미징 기능, 고급 분석 기능, 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface) 를 갖춘 이 SEM은 나노 기술 연구, 재료 과학, 반도체 분석 및 기타 관련 분야와 관련된 연구자와 과학자들에게 필수적인 도구입니다. 나노 스케일 (Nanoscale) 세계에 대한 자세한 통찰력을 제공 할 수있는 능력은 21 세기의 과학적 발견 (Scientific Discovery) 과 기술적 발전 (Technological Advancement) 의 경계를 넓히는 귀중한 자산입니다.
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