판매용 중고 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI-3050 #9078488

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050 스캔 전자 현미경 (SEM) 은 나노 기술에 사용하도록 특별히 설계된 최첨단 기기입니다. 다양한 기능을 갖춘 고성능, 비교적 높은 해상도의 SEM (SEM) 으로, 나노 스케일 재료의 고급 이미징 및 분석을 지원합니다. SEIKO SMI-3050에는 2 차 전자 (SE) 검출기와 BSE (백스캐터링 전자) 검출기의 두 가지 전자 검출기가 장착되어 있습니다. SE 검출기는 표본 표면에 대한 자세한 정보를 제공하는 반면, BSE 검출기는 보다 3 차원 분석을 제공합니다. 또한 SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050에는 표면 전류의 높은 정밀 매핑을 제공하는 Everhart-Thornley 검출기가 장착되어 있습니다. SMI-3050은 1 나노 미터의 해상도까지 개체를 이미징 할 수 있습니다. 새롭게 설계된 냉장 방출 건을 사용하여 뛰어난 안정성과 뛰어난 이미징 결과를 제공합니다 (영문). 또한, 이 기기는 매우 낮은 샘플 드리프트 및 진동을 제공하여 정확도를 높입니다. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050은 결정 방향의 맵 그리기, 표면 전위 및 위상 분석, 전하 분포 역학 연구를 포함하여 표면 지형 및 나노 구조를 특성화하기위한 독특한 고급 이미징 기술을 제공합니다. SEIKO SMI-3050은 또한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDX) 기능, 분광법 및 구슬 분석과 같은 다양한 고급 분석 기술을 제공합니다. 에드 엑스 (EDX) 는 표본의 로컬 조성을 원소 매핑하는 데 사용될 수 있으며, 이는 표본의 오염 물질을 연구하는 데 유용한 기술이다. 분광법 (Spectrometry) 을 사용하면 표본의 그레인 크기 (grain size) 및 컴포지션 (composition) 과 같은 피쳐를 분석할 수 있으며, 구슬 분석 피쳐를 사용하면 입자 공명 주파수를 정량화할 수 있습니다. SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050은 재료 과학, 반도체 공학 및 나노 기술과 같은 여러 분야에서 강력한 입지를 가지고 있습니다. 금속, 합금, 도자기, 플라스틱 등 과학 및 공학 물질을 연구하는 데 관심이있는 연구원들에게 적합한 도구입니다. 매우 미세한 해상도의 이미징 (image resolution imaging) 과 다양한 분석 기술을 제공하는 능력은 다양한 연구 응용에 귀중한 도구입니다.