판매용 중고 SELA / CAMTEK Xact 100 #293598169

SELA/CAMTEK Xact 100은 기본에서 고급까지 광범위한 응용을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 평평한 원형 나선 동작 스캔, 높고 낮은 진공 기능, 전용 탐지기, 효율적인 신호 처리 장비 등이 있습니다. 10nm 해상도와 고성능 확대는 상세한 이미징을 가능하게 합니다. 또한 SELA Xact 100은 디지털 이미징 시스템을 사용하여 내부 이미지 데이터를 캡처, 저장, 조작, 분석할 수 있습니다. CAMTEK Xact 100에는 SEM/ESEM (Environmental Scanning Electron Microscope) 디자인이 결합되어 있습니다. 결합된 설계를 통해 사용자는 낮은 (low) 모드와 높은 (high) 진공 (vacuum) 모드에서 샘플을 분석할 수 있습니다. 저진공 모드는 비전도 및 유기 샘플을 분석하는 데 사용할 수 있으며, 고진공 모드는 전도, 산화되지 않은 샘플에 적합합니다. 이를 통해 사용자는 샘플의 특성을 보다 포괄적으로 이해할 수 있습니다. Xact 100은 평평한 원형 나선 모션 스캔을 사용하여 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 이 스캔 패턴은 선형 (linear) 또는 사각형 (rectangular) 스캔에 비해 결과가 개선된 이미지를 생성하며, 이는 가변 지형으로 샘플을 이미징할 때 특히 유용합니다. 또한 SELA/CAMTEK Xact 100에는 자동으로 신호 게인, 조정 및 오프셋 전압을 변경하는 최적화 된 이미징 및 신호 처리 장치가 있습니다. 이는 넓은 범위의 확대율에서 높은 신호 대 노이즈 비율과 뛰어난 대비 이미지를 보장합니다. 온보드 디지털 이미징 머신을 통해 사용자는 이미지 데이터를 얻기, 보기, 저장, 조작, 분석할 수 있습니다. 이 이미지 데이터는 디바이스의 메모리에 저장되며, 사용자가 필요할 때 언제든지 이 이미지 데이터를 액세스하고 표시할 수 있게 해 줍니다 (영문). SELA Xact 100에는 전용 감지기 (Dedicated Detector) 도 있어 사용자가 이미징 프로세스를 중단하지 않고 동적으로 검출기 민감도를 조정할 수 있습니다. CAMTEK Xact 100은 다양한 응용 분야를 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 (High Resolution) 와 확대 (Magnification), 평평한 원형 나선형 스캔, 듀얼 진공 모드 기능 및 전용 탐지기의 조합으로 뛰어난 이미징 기능을 사용할 수 있습니다. 또한, 온보드 디지털 이미징 도구를 사용하면 이미지 데이터를 캡처, 저장, 조작, 분석하여 샘플 특성을 보다 자세히 파악할 수 있습니다.