판매용 중고 SELA / CAMTEK TEMpro #9314703

SELA/CAMTEK TEMpro는 고감도, 고해상도 FIB (Ion Beam) 이미징을위한 고급 기능을 제공하는 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 도구는 재료 과학, 재료 공학 및 나노 기술 응용 분야에 이상적입니다. 높은 해상도, 뛰어난 감도, 자동화 기능으로 인해 2D 및 3D 이미징에 적합합니다. 이 SEM의 초점은 물질과의 전자 빔 상호 작용입니다. 온도 조절이 가능한 대형 샘플 챔버 (chamber) 는 다양한 샘플 구성을 가능하게합니다. 이 기기에는 강력한 STEM 쌍곡선 거울 (STEM hyperbolic mirror column) 이 장착되어 있어 고품질 이미징과 향상된 전기 감도를 제공합니다. 또한 SEM은 고효율 BSED (backscatter electron detector) 및 CL (cathodoluminescence) 검출기를 사용하여 샘플의 밝은 구성 요소와 어두운 구성 요소를 시각화합니다. SELA TEMpro에는 자동 HF 방전 장치 (Automated HF Discharge Unit) 가 있어 충전 아티팩트 감소를위한 절연체 준비 및 이미징이 용이합니다. 고급 Data Station 소프트웨어에는 자동 패턴 인식, 통계 분석, 자동 이미지 수집 등이 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 3D 모델의 3D 재구성, 이미지 패턴 인식 및 데이터 플로팅을 허용합니다. CAMTEK TEMpro에 통합된 고급 기술은 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 고해상도 전원 (High Resolving Power) 과 고해상도 이미징 (High Contrast Imaging) 은 동적 조리개 (Dynamic Aperture) 와 가변 크기 (Variable size spot size) 를 모두 사용한 결과입니다. 가변 작업 거리 (variable working distance) 를 사용하면 특정 응용 프로그램에 필요한 세부 수준 (level of detail) 을 기준으로 이미징 해상도를 최적화할 수 있습니다. 이 기기에는 샘플의 피쳐를 정확하게 타겟팅 할 수있는 자동 FIB 스테이지가 있습니다. 통합 샘플 처리 (integrated sample handling) 기능과 결합하여 다양한 금속 및 유기 재료를 신속하게 이미지화할 수 있습니다. 통합 포지셔닝 및 Adaptive Imaging 기능을 통해 대상 중심의 이미지 매개 변수 최적화를 수행할 수 있습니다. 처리량을 극대화하기 위해 TEMpro에는 완전히 통합 된 재료 연마 장치가 장착되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 샘플을 처리할 때 자동으로 샘플을 정렬할 수 있습니다. 자동화 된 연마 장치는 다양한 재료를 연마 할 수 있습니다. 연마 방향 및 속도 조절과 같은 기능은 이미지 결과를 개선합니다. SELA/CAMTEK TEMpro (SELA/CAMTEK TEMpro) 는 다양한 고급 로봇, 자동화 기능 및 도구에 손쉽게 액세스할 수 있어 이미징 결과를 더욱 효과적으로 제어할 수 있습니다. 이 강력한 이미징 및 자동화 시스템을 이용하면 공간 해상도가 매우 높은 서브미크론 (submicron) 스케일 (scale) 기능을 편리하게 캡처하고 분석할 수 있습니다. 최상위 기술 기능의 조합으로 SELA TEMpro 는 경쟁력 있는 가격으로 탁월한 성능을 제공합니다.