판매용 중고 SELA / CAMTEK EM 3 #293598168

ID: 293598168
Transmission Electron Microscope (TEM).
SELA/CAMTEK EM 3 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 낮은 배에서 중간 정도의 배율로 샘플의 고해상도 이미지를 생성하도록 설계된 다용도 도구입니다. SEM은 샘플 표면을 가로 질러 집중된 전자 빔을 스캔하여 이미지를 생성하며, 기능의 해상도를 3 나노 미터 (3 나노 미터) 까지 낮출 수 있습니다. SELA EM 3에는 고해상도 정전기 목적 렌즈 시스템과 EDS 검출기 조합이 장착 된 다단 전자 총이 있습니다. 이를 통해 신뢰할 수 있는 다양한 샘플을 빠르고 쉽게 이미징할 수 있습니다 (영문). CAMTEK EM 3에는 독특한 진공 (in-vacuum) 샘플 스테이지가 장착되어 있어, 높은 정확도로 여러 샘플을 공유하고 포지셔닝할 수 있습니다. 표본 홀더는 최대 샘플 무게가 9kg 인 5 인치 직경 디스크 4 개를 수용 할 수 있습니다. 이 홀더는 동작 안정적이며, 배율을 높이거나 해상도를 변경하지 않고 작은 샘플 조각을 정확하게 조작 할 수 있습니다. EM 3에는 여러 가지 기술 기능이 장착되어 있어 고해상도 (high resolution) 이미지를 빠르고 쉽게 생성할 수 있습니다. SEM에는 가변 압력 시스템 (variable pressure system) 이 있으며, 이를 통해 사용자는 챔버 내부의 압력을 조정하여 이미지 품질을 최적화 할 수 있습니다. 또한 제어판 (control panel) 은 전자빔의 전압 및 전류 (current) 와 검출기 설정 (detector settings) 을 조작하여 이미지 매개변수를 미세하게 제어할 수 있습니다. SELA/CAMTEK EM 3은 또한 2 차 전자 영상 (SEI), 백스캐터 전자 영상 (BSE) 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을 포함한 다양한 영상 모드를 할 수 있습니다. 이 모든 이미징 모드는 샘플 표면의 고해상도 이미지 (high-resolution image) 와 화학 분석 (chemical analysis) 을 생성하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 SELA EM 3에는 단계, TV 모니터, 편광기 등 다양한 액세서리가 있어 현미경의 이미징 기능을 향상시킬 수 있습니다. 전반적으로, CAMTEK EM 3 주사 전자 현미경은 저중간에서 중간 정도의 확대를위한 강력하고 다재다능한 도구입니다. 진공 내 샘플 스테이지 (in-vacuum sample stage), 가변 압력 시스템 (variable pressure system) 및 다양한 이미징 모드를 사용하면 다양한 샘플을 이미징하는 데 이상적입니다. 효율적이고 고품질 (High Quality) 이미징 기능을 통해 표면의 정밀하고 상세한 이미지를 필요로 하는 사용자에게 완벽한 선택이 가능합니다.
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