판매용 중고 SEIKO SMI-8300 #9076932

SEIKO SMI-8300 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 다양한 응용 프로그램에서 샘플을 시각화하기 위해 디지털 이미징 검출기 장비를 사용하는 최첨단 기기입니다. 소형 발자국이 있지만, 다양한 샘플 분석 기법을위한 고급 (advanced) 기능을 제공합니다. SEIKO SMI 8300 (SEIKO SMI 8300) 은 고전류 전자 총과 조절식 가속 전압 (최대 30kV) 을 모두 사용하여 광범위한 샘플을 관찰하고 분석 할 수 있습니다. SEM은 고유 한 디지털 이미징 검출기 시스템 (digital imaging detector system) 을 통합하여 고유 해상도 0.2 미크론 이상의 구조를 이미징 할 수 있습니다. SEM 은 운영 및 사용자 친화적 인터페이스를 손쉽게 수행할 수 있도록 광범위한 자동 기능을 갖추고 있습니다. SMI-8300은 입자 분석, 요소 매핑, 곡물 분석, 입자 크기/모양 분석, 곡물 경계 분석 등 다양한 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 자동 장치를 사용하면 2 차 및 백스캐터링 된 전자 이미징 모드 사이에서 빠르고 쉽게 변경할 수 있습니다. 자동화된 기능을 통해 사용자는 작업 거리, 빔 전류 (beam current), 가속 전압 (accelerating voltage) 을 신속하게 변경할 수 있습니다. 또한 SMI 8300에는 0.5 m 해상도의 자동 스테이지 컨트롤이 포함되어 있으며, 이는 정렬 및 샘플 포지셔닝에 이상적입니다. SEM은 수평 및 하향/상향 방향으로 작동 할 수 있습니다. 또한 빠르고 정확한 원소 분석을 위해 자동 x-ray 검출기가 장착되어 있습니다. 검출기는 또한 0.05 ~ 0.5 m의 다양한 해상도 기능을 제공합니다. SEIKO SMI-8300 은 뛰어난 이미징 및 분석 기능과 간편한 운영 및 사용자 친화적 인터페이스를 결합한 제품입니다. 탁월한 기능과 자동화된 기능을 통해 다양한 샘플 분석 (sample analysis) 애플리케이션에 이상적인 선택이 가능합니다. 고해상도 디지털 이미징 검출기 (Digital Imaging Detector) 툴을 통해 SEM 은 전자공학 (Electronics) 과 재료과학 (Material Sciences) 을 비롯한 광범위한 산업 분야의 이미징 및 분석 요구를 충족합니다.