판매용 중고 SE-IR CIR-Base #293773785

SE-IR CIR-Base는 나노 스케일 수준에서 재료 분석을위한 독특한 기능을 통합하는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 최첨단 기기는 2 차 전자 영상 (SE-IR) 및 카토 돌루미네 센스 (CIR) 기술을 통합하여 샘플의 미세 구조와 조성에 대한 연구원들과 과학자들의 탁월한 통찰력을 제공합니다. CIR-Base SEM의 SE-IR 이미징 모드는 집중 전자 빔으로 폭격 될 때 샘플 표면에서 방출 된 2 차 전자를 사용합니다. 이 2 차 전자는 샘플의 지형, 조성 및 결정 학적 방향에 대한 귀중한 정보를 전달합니다. 이러한 2 차 전자를 감지하고 분석함으로써, SEM은 서브 나노 미터 스케일에서 표면 세부 사항을 드러내는 고해상도 이미지를 생성 할 수있다. 이 이미징 (Imaging) 모드는 재료의 형태, 결함, 인터페이스를 조사하는 데 매우 유용하며, 광범위한 연구 응용에 필수적입니다. SE-IR 이미징 외에도 SE-IR CIR-Base SEM에는 CIR (Cathodoluminescence) 기능이 장착되어 있으며, 전자 흥분 시 샘플에 의해 방출되는 빛을 분석 할 수 있습니다. 이 기법은 광학 특성, 불순물, 결함 및 재료의 전자 구조의 특성을 가능하게합니다. "가톨릭 '발광 스펙트럼 과 강도 를 연구 함 으로써, 연구가 들 은 표본 내 의 조성, 도펀트 분포, 화학적 결합 에 대한 중요 한 통찰력 을 얻을 수 있다. 단일 기기에서 SE-IR 및 CIR 기술의 조합은 재료 분석의 범위와 깊이를 향상시켜 샘플 특성에 대한 포괄적 인 이해를 제공합니다. CIR-Base SEM은 고급 탐지기 및 신호 처리 알고리즘을 특징으로하여 신속한 데이터 획득 및 분석을 지원합니다. 이 기기에는 정밀한 빔 제어 및 이미징 성능을 위해 고해상도 전자 광학이 장착되어 있습니다. SEM의 정교한 전자 소스 및 빔 스캐닝 시스템은 뛰어난 이미지 품질, 신호 대 노이즈 비율, 민감도를 보장하므로 재료 과학, 나노 기술, 지질학 등에서 까다로운 연구 응용에 적합합니다. 또한 SE-IR CIR-Base SEM에는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 을 포함한 다양한 분석 기능이 장착되어 있습니다. 이러한 추가 기술을 사용하면 마이크로 및 나노 스케일에서 샘플의 원소 분석, 화학 매핑, 결정 학적 방향 결정 및 위상 식별이 가능합니다. SEM 플랫폼 내에서 여러 분석 툴을 원활하게 통합함으로써 워크플로우를 간소화하고, 생산성을 향상시키며, 포괄적인 자료 특성화가 가능합니다. CIR-Base SEM은 다양한 샘플 유형, 크기, 모양을 수용하는 다용성과 유연성을 위해 설계되었습니다. 이 기기의 직관적인 사용자 인터페이스 및 소프트웨어를 사용하면 작업, 데이터 시각화, 이미지 처리가 용이합니다. 연구원은 SEM 의 고급 소프트웨어 툴을 사용하여 정교한 측정을 수행하고, 정량적인 데이터를 획득하고, 상세한 보고서를 생성할 수 있습니다. SE-IR CIR-Base SEM은 과학자와 엔지니어들이 나노 월드를 탐험하고, 새로운 발견을 풀고, 다양한 과학 분야의 지식을 발전시킬 수있는 강력한 연구 도구입니다.