판매용 중고 SCIXR GLOBAL Scanning Electron Microscope (SEM) #293665623
이 품목은 이미 판매 된 것 같습니다. 아래 유사 제품을 확인하거나 연락해 주십시오. EMC 의 숙련된 팀이 이 제품을 찾을 수 있습니다.
확대하려면 누르십시오
판매
ID: 293665623
빈티지: 2017
Tungsten filaments
Detectors: SEI and BEI
Chamber 5-axis stage: 40 x 40 x 40 mm Travel
Vacuum system: Rotary and turbo pump
1 to 30 Kev
Operating system: Windows 7
Workstation with dual monitors
Evex SSD EDS detector
EDS Included
2017 vintage.
SCIXR GLOBAL Scanning Electron Microscope (SEM) 는 산업 및 연구 응용을 위해 설계된 고성능 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 장비는 뛰어난 고해상도 이미징 기능, 뛰어난 표면 특성, 정확한 샘플 분석 기능을 갖추고 있습니다. 고급 기술로, SEM은 멀티 빔 이미징, 비디오 이미징, 저온 샘플 이미징, 사용자 정의 사용자 인터페이스 등 강력한 기능의 독보적인 조합을 제공합니다. SCIXR GLOBAL SEM에는 고해상도 이미지를 생성하기위한 4 채널 전자 건과 멀티 축 스캐닝 시스템이 장착되어 있습니다. 이 SEM은 고급 에너지 필터링 시스템과 미세 열 디스플레이 (micro column display) 를 활용하여 정확한 이미지 캡처를 제공합니다. SCIXR GLOBAL SEM은 8.5 ° 의 수렴 각도 (convergence angle) 와 조정 가능한 작업 거리로, 넓은 심도의 필드 및 고해상도 이미징을 제공합니다. 또한 SEM에는 샘플 로드 및 포지셔닝이 용이한 자동 스테이지가 장착되어 있습니다. SCIXR GLOBAL SEM은 40,000x 배율에서 ~ 0.6nm의 대비를 사용하여 이미지를 캡처 할 수 있습니다. 또한 SEM에는 정확한 샘플 분석을위한 자동 기능이 있습니다. 통합된 화학적 (chemical) 및 물리적 (physical) 분석 도구를 통해 샘플의 특성에 대한 정량적 (quantitative) 및 정량적 (quantitative) 측정을 수행할 수 있습니다. 여기에는 원소 구성, 기계적 특성 및 입자 크기를 결정하는 기능이 포함됩니다. SCIXR GLOBAL SEM은 (는) 구성이 용이하므로 사용자가 특정 요구에 맞게 악기를 조정할 수 있습니다. 여기에는 교환 가능한 검출기 헤드, 광시야각, 사용자 정의 사용자 인터페이스가 포함됩니다. 이 기기의 개방형 아키텍처 설계 (open architecture design) 를 통해 사용자는 여러 축으로 설정된 이미지를 보기 위한 광학 현미경 (optical microscope) 이나 샘플 준비를 위한 샘플 단계 (sample stage) 와 같은 다른 기기를 통합 할 수도 있습니다. SCIXR GLOBAL SEM은 고대비, 고해상도 이미지를 생성하여 사용자가 나노 스케일에서 작은 샘플을 정확하게 탐색하고 분석 할 수 있도록 합니다. 첨단 이미징 기능 (advanced imaging) 과 강력한 분석 도구 (powerful analysis tools) 를 사용하여 다양한 재료의 물리적, 화학적 특성을 연구할 수 있습니다. 다양성과 견고한 설계로 인해 SCIXR GLOBAL SEM은 산업 및 연구 응용 분야에 이상적입니다.
아직 리뷰가 없습니다