판매용 중고 RAITH 50 #293706140
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RAITH 50은 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 비파괴 샘플 검사를 위해 고해상도 이미징 시스템을 운영자에게 제공하도록 설계되었습니다. 첨단 전자 광학, 첨단 전자 제품, 초정밀 스테이지 및 이미징 컨트롤을 결합하여 1nm 미만의 특징을 명확하게 강조하는 상세한 미세 구조 이미지를 생성합니다. 50은 전자를 사용하여 이미지를 만듭니다. 전기 "렌즈 '와 자기장 은 일련의 정밀" 렌즈' 를 통하여 보내진 다음 아래 의 "샘플 '에 초점 을 맞추는 전자 광선 을 만드는 데 사용 된다. 이 과정을 전자 광학이라고합니다. 전자는 샘플에서 원자와 상호 작용하여, 검출기에 의해 수집 된 2 차 전자 세트를 방출한다. 검출 된 전자는 처리되어 SEM 이미지로 변환된다. RAITH 50에는 통합 2 차 전자 (SE) 검출기와 옵션 백스캐터 전자 (BSE) 검출기가 있습니다. SE의 경우 현미경은 최대 5,000X, BSE는 최대 500,000X 크기에 도달 할 수 있습니다. 이 시스템의 고유한 기능은 확장 다이내믹 레인지 (dynamic range) 로, 고에너지 이미지와 저에너지 이미지에 대한 세부 정보를 유지할 수 있어 이미지 분석 (image analysis) 이 더욱 정확합니다. RAITH 50에는 샘플의 고정밀 위치를위한 디지털 스테이지도 있습니다. 이를 통해 사용자는 관심 분야를 정확하게 검사하고, 어떤 방향으로든 스캔할 수 있습니다. 디지털 스테이지 (digital stage) 에는 동적 줌 (dynamic zoom) 기능이 있어, 이미지를 실시간으로 보는 동안 연산자가 샘플을 팬, 회전 및 확대할 수 있습니다. 50은 매우 효율적이고 사용자 친화적입니다. 최소한의 연산자 (operator) 로 뛰어난 이미징 성능을 낼 수 있어, 결과의 일관성과 정확성을 보장합니다. 그 정밀도 와 정확도 는, 사용 편이성 과 결합 하여, 반도체 고장 분석, 재료 결함 분석, 일반 "샘플 '이미징 등, 여러 가지 응용 을 위한 훌륭 한 선택 을 하였다.
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