판매용 중고 PSIA XE-100 #293642259

PSIA XE-100
ID: 293642259
Atomic Force Microscope (AFM).
PSIA XE-100 현미경은 정교한 광학과 이미징 기술을 사용하는 최첨단 디지털 현미경입니다. 이 현미경은 수동 초점이 필요 없이 고해상도 이미지를 제작할 수 있습니다. 자체 광원이 있으며 여러 샘플 유형을 분석 할 수 있습니다. 이 현미경은 3 가지 이미징 모드를 사용하여 가장 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 여기에는 디지털, 와이드 필드 및 초점 이미징이 포함됩니다. 그런 다음, 디지털 카메라로 찍은 이미지는 이미지 향상 (image enhancement) 및 분석 소프트웨어 (analysis software) 를 사용하여 처리되며, 이를 통해 XE-100은 기존의 광학 현미경 시스템에서 달성 할 수없는 뛰어난 결과를 얻을 수 있습니다. 와이드필드 이미징 (Widefield Imaging) 은 응축기를 사용하지 않고 작동하며 높은 해상도로 매우 넓은 시야를 제공합니다. 이 현미경의 와이드 필드 (widefield) 기능은 특히 조직 샘플 및 기타 큰 표본 아이템을 검사하는 데 유용합니다. 초점 이미징 기능을 통해 PSIA XE-100 현미경은 연구 중인 샘플에 대한 깊이 정보를 정확하게 캡처 할 수 있습니다. 심층 정보 (depth information) 를 활용하면 결과에 대한 분석이 크게 향상됩니다. 고해상도 이미지 캡처 기능 외에도, 이 현미경은 더욱 편리하고 정확성을 위해 탁월한 심도 (depth of field) 를 제공합니다. 또한 XE-100 현미경은 다양한 워크플로우 요구 사항에 적합한 강력한 소프트웨어 패키지를 갖추고 있습니다. 즉, 이미지를 쉽게 분석하고 데이터를 분류, 저장, 출력할 수 있습니다. 또한, 소프트웨어는 모든 연구/테스트 요구 사항에 적합하도록 손쉽게 맞춤 구성할 수 있습니다. PSIA XE-100 현미경은 광범위한 표본의 이미징 및 분석을위한 이상적인 도구입니다. 첨단 광학· 영상 기술로, 이 현미경은 의학· 과학 연구에 좋다. XE-100 은 강력한 소프트웨어, 와이드필드 (widefield), 초점 이미징 모드 기능과 결합하여 다양한 현미경 응용프로그램을 위한 탁월한 선택입니다.
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