판매용 중고 PHILIPS / FEI XL Sirion #293636315

PHILIPS/FEI XL Sirion Scanning Electron Microscope (SEM) 는 다양한 미세한 특징과 재료를 연구하는 데 사용되는 고급 이미징 장비입니다. 이 SEM에는 FEG (in-column "FEG" field emission gun) 기술이 적용되어 나노 스케일의 입자를 검사하기위한 강력한 도구입니다. FEG는 얇은 샘플을 침투 할 수있는 고에너지 전자를 생성하여 해상도가 높은 이미지를 허용합니다. 특허를받은 Schottky SFES (Field Emission Source) 기술을 통해 이미징 시스템이 초고대비, 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 인컬럼 건 (in-column gun) 설계 및 방사선 보호 차폐는 설치 프로세스를 간소화하고 기계적 손상의 위험을 최소화합니다. SEM은 또한 인상적인 이미징 기능을 제공합니다. 최대 1.4 나노 미터 (nanoscale particle), 박막 (thin film) 및 기타 섬세한 물질과 같은 매우 상세한 구조를 연구하는 데 적합하다. 직관적인 터치스크린 인터페이스를 통해 명암비, 밝기, 해상도 수준을 빠르고 쉽게 구성할 수 있습니다. 이 이미징 머신은 또한 여러 이미지를 얻을 수 있으므로 3D 재구성 및 고해상도 매핑을 생성할 수 있습니다. FEI XL Sirion의 자동 정렬 기능은 실험을 빠르고 쉽게 실행합니다. 정렬 프로세스 (Alignment process) 는 샘플을 정위하는 데 필요한 시간을 줄이고, 이를 통해 작업을 빠르게 수행하고, 진행 중인 실험을 보다 쉽게 완료할 수 있습니다. 또한, PHILIPS XL 시리 온 (Philips XL Sirion) 은 광범위한 샘플 준비없이 재료의 특성을 가능하게하는 자동 표면 화학 분석 기능을 제공합니다. 마지막으로 XL Sirion SEM은 Low Vacuum, Variable Pressure, ESEM 및 In-Situ 모드를 포함한 다양한 이미징 모드도 가능합니다. 이 다양한 이미징 모드 (image mode) 를 사용하면 재료와 입자를 쉽게 탐색할 수 있으며, 이를 통해 샘플에 대한 자세한 정보를 보다 정확하게 얻을 수 있습니다.