판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 830 #293754265
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PHILIPS/FEI XL 830은 최고의 해상도와 감도를 갖춘 절묘한 샘플 이미징을 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 기구 는 모든 종류 의 작은 "샘플 '들 을 정확 하게, 그리고 신속 히 분석 할 수 있는 능력 때문 에 과학 분야 의 실험실 들 가운데 소중 히 여긴다. FEI XL 830의 다재다능한 기능은 광범위한 과학 응용 프로그램 및 연구 분야에서 사용할 수 있습니다. 이 스캔 전자 현미경은 사용자에게 강력하면서도 사용자 친화적 인 장치를 제공하기 위해 광범위한 기술 발전을 통합합니다 (영문). 필립스 XL 830 (PHILIPS XL 830) 은 열 내 에너지 필터로 구성되어 높은 에너지 해상도의 이미지를 얻을 수 있습니다. XL 830은 1 나노 미터 미만의 해상도에 도달 할 수 있으며, 초고속 마그네틱 렌즈를 사용하여 탁월한 샘플 이미징을 제공합니다. 이 FEG (Dual Objective Field Emission Gun) 설계를 통해 다양한 샘플에서 고해상도 이미지를 생산할 수 있으며, 시야는 거의 접촉에서 10mm까지 조정할 수 있으며, 사용자에게 유연성을 제공합니다. PHILIPS/FEI XL 830은 다양한 이미징 및 분석 옵션을 제공합니다. FEI XL 830의 저진공 환경은 손상 위험없이 비 결정질 샘플을 분석 할 수 있습니다. 또한, PHILIPS XL 830에는 환경 챔버가 포함되어 샘플 온도를 정확하게 제어합니다. 이 기능은 온도 의존 프로세스 (temperent-dependent process) 또는 작동 온도에서 샘플을 평가하는 연구에 특히 유용합니다. XL 830의 X- 선 마이크로 분석 (X-ray microanalysis) 기능은 연구 중인 샘플의 원소 성분을 식별 할 수있다. 온보드 분광계 (on-board spectrometer) 를 사용하면 모든 kV 에너지 범위를 선택할 수 있으며 증착 된 모든 전하가 분광계에 의해 수집되어 고해상도 스펙트럼을 생성합니다. 이미지 처리 기능 외에도, PHILIPS/FEI XL 830 은 사용자에게 최고의 분석/연구 수준을 갖출 수 있는 다양한 자동화 기능을 제공합니다. 자동 기능에는 초점 자동 (automated focus) 및 낙인 찍기 (stigmation) 가 포함되어 있어 유사한 샘플의 빠르고 반복 가능한 이미징과 최대 60 미크론 시야의 자동 스캐닝 기능이 있습니다. FEI XL 830은 최고 수준의 정밀도와 결과를 찾는 과학자들에게 매우 강력한 도구입니다. 다양한 이미징/분석 옵션과 견고한 구성 기능을 갖춘 PHILIPS XL 830 은 최고의 성능과 사용 편의성을 제공합니다. 엔드 유저는 XL 830 을 통해 다양한 애플리케이션과 샘플에 대한 품질과 신뢰성 있는 이미징, 분석 등을 제공할 수 있습니다.
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