판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 40 #9249027

PHILIPS / FEI XL 40
ID: 9249027
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 40은 다양한 생물학적 및 물질 샘플의 이미징 및 분석에 사용되는 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 자동 가변 압력 장비를 갖춘 고해상도 광학 열 (optical column) 이 있으며 최신 EDS 검출기를 통합했습니다. 이 SEM 이미징 시스템은 최대 40 KV의 가속 전압과 높은 밝기, 저소음 작동을위한 windowless field emission gun을 자랑합니다. 고속 스캐닝 (Fast-Scanning) 기술을 통해 60hm 해상도의 이미지를 제공하여 마이크로스케일 수준에서 샘플의 세부 특성을 지정할 수 있습니다. 또한 FEI XL 40에는 모터화 된 조작기가 장착 된 샘플 로딩 및 스퍼터링 장치 (sputtering unit) 가 있으며, 이는 표본 전송을 촉진하여 사용자 경험을 향상시킵니다. PHILIPS XL-40은 광학 기능 외에도 EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) 를 포함하여 구성 분석을위한 다양한 분석 도구를 제공합니다. 에너지 범위가 최대 30 keV 인 이 EDS 탐지기 (DDS Detector) 를 사용하면 원소 한계까지 요소를 정확하게 식별하고 정량화할 수 있습니다. 또한 PHILIPS XL 40에는 저 빔 용량에서 빠른 매핑과 에버 하트-손리 (Everhart-Thornley) 검출기를 제공하는 전용 In-Lens-Detector가 포함되어 있으며 충전 보상에 적합합니다. 또한 로봇 스테이지 XYZ 자동화 (Robotic Stage XYZ Automation) 를 통해 빠르고 동시에 샘플 포지셔닝을 수행할 수 있으며, 한 샘플에서 여러 지점의 후속 이미지를 이미징 및 분석할 수 있습니다. 마지막으로, PHILIPS/FEI XL-40에는 다양한 이미징 및 분석 도구를 갖춘 사용자 친화적 인 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 결론적으로 XL 40은 하이엔드 SEM 이미징 머신으로, 학계, 연구, 업계 애플리케이션을 위한 광범위한 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 광학 및 EDS 검출기, 자동 시스템, 종합 소프트웨어 등을 갖춘 이 SEM 기기는 최고의 해상도와 최대한의 정확도로 이미지를 제공할 수 있습니다.
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