판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 40 #9248867

PHILIPS/FEI XL 40은 다른 형태의 현미경보다 확대 수준에서 표본의 고해상도 이미지를 얻는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 그것 은 빛 이 아니라 "전자 '를 이용 하여 표본 을 상상 하며, 그 결과" 이미지' 는 크기 가 "나노미터 '까지 극히 작은 특징 들 을 분석 할 수 있게 해 준다. 이 SEM은 조절 가능한 자기 렌즈 시스템 (magnetic lens system) 과 더 큰 샘플을 수용 할 수있는 특수 인서트가있는 분석 챔버 (analysis chamber) 가있는 고급 전자 빔 (electron beam) 열을 특징으로합니다. 성능 측면에서 FEI XL 40은 기존의 가벼운 현미경보다 뛰어난 해상도, 뛰어난 명암비 및 높은 신호 대 잡음비를 제공합니다. 이를 통해 표본을 이미징 할 때 더 자세하고 명확해질 수 있습니다. 이 모델에는 반도체, 폴리머 (polymer), 살아있는 샘플과 같은 다양한 재료에 적합한 다양한 운영 모드가 있습니다. 또한 스캐닝 속도가 초당 최대 5,000 배인 대형 표본을 이미지화할 수 있습니다. 필립스 XL-40 (PHILIPS XL-40) 은 사용자에게 친숙한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스), 고급 표본 제어, 화면 편집 및 분석, 자동 데이터 수집 등 이미징 프로세스를 단순화하도록 설계된 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 내장 마이크로 프로세서는 또한 다양한 매개변수 (예: 두께, 표본 형상) 를 자동으로 측정할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 최적의 작업 조건을 유지하기 위해 진공의 자동 조정을 갖추고 있습니다. 이미지 획득 측면에서, FEI XL-40은 2 차 전자 영상, 역 산란 전자 영상 및 x- 선 미세 분석을 포함한 다양한 미세 기술을 사용합니다. 이미지를 JPEG, BMP 및 TIFF를 포함한 다양한 파일 유형으로 저장할 수도 있습니다. 데이터 분석은 특정 소프트웨어를 사용하여 사후 수행될 수 있습니다. XL-40 (XL-40) 은 다양한 연구 및 상업 응용 분야에 사용하기에 적합하며, 학술 및 산업 환경에서 모두 사용하도록 설계되었습니다. 분석적 (analytical) 과 영상적 (imaging) 목적으로 다양한 입자를 이미징할 수 있어 다양한 과학적 연구에 적합하다.