판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 40 #9049866

PHILIPS/FEI XL 40 스캔 전자 현미경 (SEM) 은 다양한 재료를 특성화하기위한 강력한 이미징 도구입니다. 표본의 표면 지형 및 조성을 나노 스케일 (nanoscale) 수준까지 연구하는 데 사용되는 장비입니다. 최대 x115,000, 해상도 0.50nm, 이미지 선명도 및 깊이 약 1nm로 표본을 확대하는 기능이 있습니다. 조명의 원천은 전자 총으로, 전자를 포스포 스크린에 쏘습니다. 그런 다음, 이 전자 들 은 표적 물질 과 상호 작용 하여, 2 차 전자 를 만들어 내는데, 그 전자 들 은 "탐지기 '에 의해 포착 된 다음" 모니터' 에 영상 으로 나타낸다. FEI XL 40 SEM에는 백스캐터 이미징, 2 차 전자 이미징 및 cathodoluminescence와 같은 광범위한 이미징 기능이 있습니다. 또한 2 차 전자를 생성 할 수있는 특수 총 (specialized gun) 을 사용하여 비 전도성 물질 분석에 사용할 수 있습니다. 또한, SEM은 에너지 분산 x- 선 (EDX) 분석을 통해 물질의 화학 조성을 탐지 할 수 있습니다. 이 장비의 소프트웨어는 다양한 이미지 처리 및 분석 (analysis) 기술을 제공하며, 이를 통해 사용자는 표본의 정확한 측정, macroparticle 배포의 추출 매핑, 현미경의 기능을 크게 확장 할 수 있습니다. PHILIPS XL-40 SEM은 큰 챔버 크기를 가지고 있으며, 일반적으로 560mm x 330mm의 큰 시야를 제공합니다. 저진공 모드에서 이미징 할 때 최대 30 "x 24" 의 대형 샘플을 수용하고 최대 1nm 해상도를 제공 할 수 있습니다. 이 SEM에는 -196 ° C의 낮은 온도에서 표본을 분석 할 수있는 내장 액체 질소 (LN2) 크리오 홀더가 있습니다. 마지막으로, 이 장비에는 자동 샘플러 (sampler) 와 샘플 조작기 (sample manipulator) 가 있어 샘플을 이동 및 회전시킬 수 있으며, 크기나 모양으로 인해 이전에 불가능했던 샘플을 분석할 수 있습니다. PHILIPS/FEI XL-40 SEM은 업계, 엔지니어링 및 과학 연구의 샘플을 특징 짓는 데 필수적인 도구입니다. 광범위한 이미징 (Imaging) 및 분석 (Analysis) 기능을 통해 SEM의 기능을 사용하여 재료 성능 및 구조를 식별하고, 표본 표면의 세부 맵을 생성하며, 재료 화학에 대한 통찰력을 얻을 수 있습니다. 또한, 자동 샘플 조작 및 LN2 크리오 홀더 (cryo-holder) 기능은 극도로 낮은 온도 또는 표본의 조작이 필요한 특수 응용 프로그램의 장치 기능을 더욱 향상시킵니다.