판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 40 #293610598

PHILIPS/FEI XL 40은 사용자에게 강력하고 안정적인 스캔 기능을 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 최첨단 현미경은 1nm 이상의 해상도로 최대 25,000 배율을 제공 할 수 있습니다. 또한, 넓은 시야를 제공하며, 사용자에게 나노 미터 크기의 표본에서 발생하는 프로세스에 대한 실시간 관찰을 제공합니다. FEI XL 40에는 저빔 전류 (low beam current) 와 고류 밀도 (high current density) 를 허용하는 필드 배출 총이 장착되어 있어 정확도와 해상도가 더 높습니다. 이 SEM은 또한 PE/SEC (in-in-in-Primary and Secondary Electron Detector) 를 통해 사용자가 데이터 수집 모드와 이미징 모드 사이를 빠르게 전환하여 효율성을 향상시킬 수 있습니다. 또한 PHILIPS XL-40에는 백스캐터 탐지기 (backscatter detector) 가 포함되어 있어 샘플에서 다양한 재료를 식별 할 수 있으며 원소 분석을위한 EDS (Energy Dispersive X-ray Detector) 가 있습니다. 또한 PHILIPS/FEI XL-40은 고품질 평면 패널 모니터와 6축 모터라이제이션을 통해 사용자에게 자동 샘플 스캐닝을 제공합니다. PHILIPS XL 40은 Aberration Corrected EM (수차 수정 EM) 과 호환되도록 설계되었으며, 사용자가 해상도와 정의가 향상된 표본을 관찰하고 사진을 찍을 수 있습니다. 이 시스템에는 스테이지 자동 초점 (Stage Autofocus) 이 장착되어 있어 스테이지가 여러 축으로 회전하는 동안 이미지를 포커스로 유지할 수 있습니다. XL-40 은 사용자가 최대의 검색 기능과 해상도를 제공하도록 설계된 고급 SEM 입니다. Aberration Correction, EDX, 고해상도 이미징 및 샘플 스캔과 같은 고급 기능을 통해 연구, 제조 및 학술 응용 분야에 이상적인 선택이 가능합니다.