판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #9259822

PHILIPS/FEI XL 30은 주사 전자 현미경 (SEM) 으로 나노 미터 수준에서 시료 촬영 및 분석을위한 강력한 도구를 제공합니다. FEI XL 30은 0.3 나노 미터까지 해상도를 가진 고해상도 이미징, 2 차 전자, 역 산란 전자 및 X- 선 분광법의 3 가지 이미징 모듈을 동시에 감지 할 수 있습니다. 필립스 XL30 (PHILIPS XL30) 은 크고 다양한 기능으로, 다양한 기능과 기능을 갖추고 있습니다. 인체 공학적, 사용자 친화적 WORKPLACE 환경을 갖춘 반자동 (semi-automation) 기능을 제공하여 효율적이고 효과적으로 작업을 수행할 수 있습니다. 이 시스템에는 최신 Scanning Augmented Pre-aligned (SAP) 샘플 포지셔닝 기술이 탑재되어 있어 빠르고 정확한 반복 가능한 위치 설정이 가능합니다. FEI XL30에 내장 된 단색 장치 (monochromator) 에는 3 극 구성이 있으며, 이는 보이는 혼수 수차없이 균질하게 조명되는 전자 빔을 생성하여 최적의 이미징 조건을 보장합니다. 수퍼 해상도 기능 (Super-resolution Feature) 을 사용하면 나노 미터 수준에서 미세 구조를 강화할 수 있습니다. PHILIPS/FEI XL30에서 제공하는 SEM-EDS 검출기는 여러 하전 입자에서 정보를 동시에 획득 할 수 있으며, 주기율표에서 원소를 마그네슘 (9) 까지 감지 할 수 있습니다. 이 제품은 인수/분석 소프트웨어 패키지가 완전히 통합되어 있어 외부 패키지 없이 고급 데이터 처리 (Advanced Data Handling) 기능을 제공합니다. XL30은 TrueDepth (tm) 및 TrueContrast (tm) 기술을 모두 활용하여 현장 심도를 높이고 뛰어난 명암과 해상도를 제공합니다. 이중 필라멘트 전자원은 확장 된 동적 범위 (dynament range) 와 향상된 안정성 (stability) 을 가능하게하며, 이미징 시스템의 수정 기능은 자각 위치 또는 전류/전압 설정을 교정할 때 시간과 수동 노력을 줄입니다. 결론적으로, PHILIPS XL 30은 연구 및 업계에서 전례없는 이미징 기능을 제공하도록 설계된 강력한 SEM입니다. 인체 공학적 디자인 (ergonomic design) 은 과학자와 산업 엔지니어들의 요구에 맞춰 다양한 기능, 기술, 기능을 제공합니다. 첨단 기능과 다양한 기능을 갖춘 XL 30 은 표면 분석 (Surface Analysis) 및 이미징 (Imaging) 을 위한 포괄적인 계측 옵션을 제공합니다.