판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #9243798

FEI XL 30 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 고성능 이미징 및 재료 분석을 위해 설계된 고출력, 대형 시야 스캐닝 전자 현미경입니다. SEM은 확장 된 작업 거리로 배율 범위가 4X에서 30X 사이의 큰 표본 챔버를 특징으로합니다. 이를 통해 x-y-z 방향으로 최대 256mm의 표본을 정확하게 검사 할 수 있습니다. 또한 에너지 필터가 내장 된 in-column Schottky field emission gun (FEG) 전자 소스를 특징으로합니다. 이를 통해 반음계 수차가 감소한 밝은 고대비 이미징이 가능합니다. FEG 전자 총은 서비스 수명이 길어 시간이 지남에 따라 안정적인 성능을 보장합니다. 또한 PHILIPS/FEI XL 30에는 고급 이미징 응용 프로그램을 지원하는 DSP (Digital Signal Processor) 가 장착되어 있습니다. 이 SEM의 고급 세부화 기능은 표준 표본에서 0.04nm (0.04nm) 까지 정확한 기능을 이미징 할 수 있습니다. 자동화된 기울기 (tilt) 및 초점 관찰 기능은 뛰어난 표면 형태 이미징 및 단면 분석 기능을 제공합니다. 고해상도 이미징은 자동화된 무채질 (achromatic) 보정과 결합된 고급 편광 객관형 렌즈를 통합함으로써 더욱 향상됩니다. FEI XL 30의 고급 분석 측정 기능은 정확한 저전압 분광법, 0.1% 에서 100% 까지 전체 원소 식별, 원자 수준에서 화학 조성의 고급 질적 및 양적 분석을 특징으로합니다. EDX 및 WDX에서 EBSD, Backscatter 및 Brightfield에 이르기까지 다양한 사용 가능한 검출기가 있습니다. 전체 SEM 시스템은 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 작동하며, 간편한 작동과 함께 실험의 매개변수화를 지원합니다. 또한, 기본 제공 자동화는 프로세스의 부분적/완전한 자동화를 통해 일관되고 반복 가능한 운영을 보장합니다. PHILIPS XL30은 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 고급 이미징, 분석 및 연구에 적합합니다. 나노 미터 (nanometer) 수준에서 정확한 이미징을 가능하게 하는 반면, 고급 자동 기능은 반복 가능한 작업과 일관된 결과를 보장합니다.