판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #9242267

PHILIPS/FEI XL 30은 뛰어난 성능과 신뢰성으로 유명한 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징 (Imaging) 과 분석 (Analysis) 기능을 통해 나노 과학 및 관련 분야에서 일하는 연구원들에게 바람직한 도구가되었습니다. FEI XL 30은 전계 방출 전자 광학 (field emission electron optics) 과 왜곡이없는 고전압 전자 총을 사용하여 우수한 해상도의 이미지를 생성하여 복잡한 입자 영상 작업을 쉽게 완료 할 수 있습니다. PHILIPS XL30의 감지 신호 대 잡음 비율은 최대 4000: 1이며, 시장에서 가장 민감하고 성능이 높은 스캐닝 전자 현미경 중 하나입니다. XL 30은 완전 자동화 된 표본 교환 시스템을 갖추고 있으며, 샘플을 빠르고 편리하게 전환합니다. 또한 강력한 분석 및 이미징 제품군을 자랑하며, 이는 프로토 메트릭 분석, EDS 분광법, 백스캐터, 브라이트필드 및 다크필드 모드의 이미징, 원소 매핑, 입자 정량화, 레이어 두께 측정 및 형태 학적 특성화가 가능합니다. XL30은 1 äm에서 300 äm까지의 조정 가능한 작동 거리를 가지며, 다양한 이미징 기술을 사용할 수 있습니다. 또한, FEI XL30은 광범위한 액세서리 및 샘플 홀더와 함께 사용되어 거의 모든 현미경 응용 프로그램의 요구를 충족시킬 수 있습니다. PHILIPS/FEI XL30 스캐닝 전자 현미경은 매우 신뢰할 수있는 고성능 도구로서, 과학자들이 나노 스케일에서 상세한 이미징 및 분석을 수행 할 수 있습니다. 최첨단 전자 광학과 다양한 액세서리 배열을 갖춘 PHILIPS XL 30은 이상적인 입자 이미징 솔루션입니다.