판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #9151973

PHILIPS/FEI XL 30은 고해상도 이미징, 뛰어난 이미지 품질, 정확한 원소 분석을 제공하도록 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 초고해상도 및 고급 이미징 기능으로, FEI XL 30은 재료 특성화 및 3D 이미징에 적합하므로 과학자와 엔지니어에게 귀중한 도구입니다. 필립스 XL30 (PHILIPS XL30) 은 FEG (Field Emission Gun) 전원으로 구동되며, 다양한 빔 전류로 빠르고 효과적인 이미징을 가능하게합니다. 이 전자 현미경은 150mm의 큰 확대 (magnified) 전망장을 특징으로하여 큰 샘플을 관찰 할 수 있습니다. 넓은 심도를 통해 PHILIPS/FEI XL30은 대규모 표면 분석 및 심층 구조 이미징에 이상적입니다. 요소 분석을 위해 PHILIPS XL 30은 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 파장 분산 X- 선 분광법 (WDS) 과 같은 혁신적인 고급 이미징 기능을 제공합니다. EDS를 사용하면, 샘플의 원소 조성을 정확하게 결정할 수있는 반면, WDS는 샘플 표면에서 국소 화학 조성을 측정합니다. 이러한 기술을 통해 가장 높은 수준의 세부 (detail) 에서 샘플의 구조와 구성을 정확하게 식별 할 수 있습니다. XL 30은 파괴적이지 않은 3D 이미징을 제공하여 표면 기능과 내부 구조를 시각화할 수 있습니다. 이 현미경은 효율적인 데이터 획득, 분석, 보고를 위한 자동화된 스테이지 장비와 통합 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 전문 소프트웨어 모듈을 통해 생물 학자들은 샘플의 3D 재구성을 회전시키고 조작하여 내부 구조에 대한 귀중한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. XL30 은 사용자 친화적인 시스템으로 설치, 운영, 유지 보수가 간편합니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 신속하게 변경이 가능하고 새로운 이미징 설정을 신속하게 통합할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 탐지기, 카메라, 어댑터 등 다양한 주변 기기와 호환되며, 특수 응용 프로그램에 맞게 기계를 사용자 정의하는 데 더 큰 유연성을 제공합니다. 전반적으로 FEI XL30은 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 뛰어난 이미징 해상도, 정확한 원소 분석 기능 및 재료 특성화에 대한 중요한 3D 이미징을 제공합니다. 고급 기능, 안정성, 사용자 친화성 등이 결합되어 연구/산업 응용프로그램을 위한 강력한 툴이 됩니다.