판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #293831005
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PHILIPS/FEI XL 30은 산업, 학술 및 정부 연구에 적합한 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEI XL 30은 강력한 이미징 기능으로, 다양한 재료와 구조를 매우 자세히 볼 수 있습니다. 현미경에는 고해상도 냉각 백 스캐터 검출기와 에버하르트 손리 탐지기 (Everhart-thornley detector) 가 장착되어 있으며, 둘 다 명암과 해상도를 향상시킵니다. 현미경은 최신 FEG (Field Emission Gun) 기술을 사용하여 높은 배율에서도 해상도, 안정성 및 이미지 품질을 향상시킬 수 있습니다. 이 기술은 최적화된 2 차 전자 (secondary electron) 와 저 진공 (low-vacuum) 기술의 조합으로 더욱 향상되었으며, 이는 원자 및 자기 물질과 구조의 뛰어난 영상을 가능하게합니다. PHILIPS XL30은 Digital Image Processing 및 AutoMontage와 같은 광범위한 디지털 이미징 기능도 제공합니다. FEI XL30은 또한 고급 자동화 시스템 (Advanced Automation System) 을 갖추고 있어 현미경의 수명에 비해 쉽고 일관된 작동이 가능합니다. 이 자동화 시스템은 표본 이동, 압력, 기울기, 스캔 크기, 이미지 해상도와 같은 다양한 매개변수를 감지하고 관리할 수 있습니다. 또한 PHILIPS XL 30 은 자동화된 스테이지 제어 (stage control) 와 통합 작업 시퀀스 시스템 (Tasks Sequence System) 을 통해 다양한 작업을 빠르고 효율적으로 수행할 수 있습니다. XL30은 고급 기능과 뛰어난 이미징 기능을 갖춘 산업, 학술, 정부 관련 연구 용도로 설계되었습니다. 탁월한 이미징 해상도, FEG 기술 및 자동 시스템은 PHILIPS/FEI XL30을 상세한 분석 및 관찰을 수행하려는 사람들에게 이상적인 선택으로 만듭니다. 현미경의 저 진공 (low vacuum) 과 2 차 전자 기술 (secondary electron technology) 의 조합을 통해 사용자는 원자 및 자기 물질과 구조를 볼 수 있으며, 관찰되는 샘플에 대한 포괄적이고 상세한 그림을 제공 할 수 있습니다.
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