판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #293829560

PHILIPS/FEI XL 30은 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 재료 과학, 공학, 생물학, 법의학 및 나노 기술을 포함한 다양한 응용 분야에 널리 사용됩니다. 이 SEM은 전자 현미경, FEI 및 PHILIPS에서 가장 존경받는 두 브랜드의 강점과 기능을 결합합니다. FEI XL 30은 전계 방출 전자 열 (field emission electron column) 로 설계되었는데, 이는 일반적인 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 대신 전자로 하전 될 수있는 전자 방출기를 사용하여 매우 낮은 에너지 수준에서 전자를 방출합니다. 기존의 SEM에 비해 정확도, 해상도 및 명암비 기능이 향상됩니다. PHILIPS XL30을 사용하면 해상도를 1 나노미터까지 낮출 수 있습니다. XL30은 상대적으로 저렴하지만 성능이 뛰어난 SEM임에도 불구하고 고해상도 이미지를 제공합니다. 0.4 ~ 600Hz (0.4 ~ 600Hz) 범위의 다양한 스캔 속도에 맞게 구성할 수 있어 이미지 처리 및 분석 속도가 빠릅니다. 또한, 표본에 대한 충전 효과를 줄이고 해상도를 더욱 높여주는 관성 렌즈 시스템 (관성 렌즈 시스템) 을 제공합니다. XL 30은 또한 나노 스케일 (nanoscale) 에서 표면을 분석 할 때, 특정 응용에 필수적인 약한 2 차 전자를 감지하고 영상 할 수있다. 필립스/페이 XL30 (PHILIPS/FEI XL30) 에는 약한 전자 신호를위한 검출기가 장착되어 있으므로, 이미지를 빠르고 쉽게 생성하여 나노 수준에서 표면의 구조 또는 형태를 나타낼 수 있습니다. 필립스 XL 30 (PHILIPS XL 30) 은 또한 다양한 기능을 통해 사용자가 필요한 이미지를 얻기 위해 쉽게 매개변수를 조정할 수 있습니다. 저진공 (low vacuum), 심지어 높은 진공 (high vacuum) 과 같은 다양한 환경 조건에서 사용할 수 있습니다. 진공 상태 가 조정 이 가능 하기 때문 에, 현미경 은 어떤 특정 한 "응용프로그램 '의 필요 를 충족 시키도록 맞춤 될 수 있다. 또한 FEI XL30에는 'Pole Zero Correction' 기능이 장착되어 있으며, 이미지에서 발견 된 왜곡이나 인공물을 줄이거나 제거하는 데 사용할 수 있습니다. 이 기능은 이미지의 선명도 (clearity) 와 해상도 (resolution) 를 향상시키고 스캔 중에 발생할 수 있는 인공물을 줄이는 데 사용될 수 있습니다. 또한 고품질 (HA) 이미지를 생성하는 데 걸리는 시간을 단축하여 데이터를 빠르고 효율적으로 분석, 해석할 수 있습니다. 요약하면, PHILIPS/FEI XL 30은 저렴한 가격으로 고품질의 정확한 스캐닝 전자 현미경을 찾는 사람들에게 적합한 선택입니다. 최대 1 나노 미터 (nanometer) 까지 해상도를 제공하여 다양한 어플리케이션에 적합하며, 품질 이미지와 데이터 입수를 보장하는 다양한 기능을 제공합니다.