판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #293825762

PHILIPS/FEI XL 30은 FEI 그룹이 만든 XL 시리즈 SEM의 일부인 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 탁월한 성능을 제공하며, 다양한 이미징 및 분석 작업에 적합합니다. FEI XL 30에는 전자 및 중성자 소스를 동시에 사용할 수있는 더블 빔 장비가 있습니다. 이렇게 하면 전체 다중 모드 이미징 (full multi-mode imaging) 을 통해 연구 중인 샘플을 보다 포괄적으로 볼 수 있습니다. 이중 빔 시스템은 또한 샘플의 화학 및 원소 분석을 제공하는 EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) 와 같은 측정을 용이하게합니다. 필립스 에버 하트-손리 (PHILIPS Everhart-Thornley) 검출기를 사용하여 공간 해상도가 높고, 전자 총 제어 장치를 자동 안정화하여 시간이 지남에 따라 화질이 안정됩니다. 또한 PHILIPS XL30은 빠른 스캔 시간 및 고속 비디오 녹화를 제공하여 동적 프로세스를 캡처합니다. 또한 3D 이미징 및 자동 작동을위한 소프트웨어도 기본으로 제공됩니다. 필립스 XL 30 (PHILIPS XL 30) 은 또한 기울기 단계를 가지고 있으며, 다중 기울기 이미징을 위해 정확한 샘플 위치 및 다른 방향으로 회전할 수 있습니다. 또한 자동 기울기 보정기를 사용하면 기울기 조정을 정확하게 자동화할 수 있습니다. PHILIPS/FEI XL30에는 다양한 액세서리 (액세서리) 가 있어 운영자가 다양한 응용 프로그램을 수행 할 수 있습니다. 또한 결정 학적 분석을 위해 EBSD (Electron Backscatter Diffraction) 를 지원합니다. FEI XL30에는 Gap Sensing Technique 모듈도 기본으로 제공되므로 사용자에게 나노미터 두께의 샘플을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 요약하면, XL30은 강력하고 유능한 스캐닝 전자 현미경입니다. 빠른 이미징 (fast imaging), 정확한 측정 (accurate measurements), 다양한 분석 기능을 제공하여 다양한 애플리케이션에 이상적인 옵션을 제공합니다. 첨단 기능과 다양한 액세서리를 갖춘 XL 30 은 모든 연구/산업 이미지 처리/분석에 이상적인 플랫폼입니다.