판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #293809666

PHILIPS/FEI XL 30은 업계 최고의 스캐닝 전자 현미경으로, 까다로운 실험실 및 연구 응용프로그램에 사용하도록 설계되었습니다. 이 강력한 현미경은 작은 샘플의 고해상도 (high-resolution) 이미지를 제작할 수 있으며, 광범위한 과학 응용에 이상적입니다. 현미경의 주요 구성 요소에는 전자원, 전자 광학, 고감도 검출기, 자동 샘플 스테이지가 포함됩니다. 전자원 은 "시료 '위 로 향하는 집중 된 전자 광선 을 만들어 낸다. 이 유도 빔 스캔 (directed beam scans) 은 샘플과 전자가 샘플 표면과 상호 작용하여 샘플의 표면 구조에 대한 정보를 생성합니다. 그런 다음 이 정보를 증폭하여 검출기 (detector) 로 보내 데이터를 디지털 이미지 (digital image) 로 변환합니다. 고감도 검출기 (high-sensitivity detector) 를 사용하면 현미경이 매우 작은 피쳐를 감지할 수 있으며, 매우 상세한 이미지를 생성할 수 있습니다. 자동 샘플 (automated sample) 단계는 정밀 샘플 포지셔닝을 제공하여 사용자가 원하는 배율에서 샘플을 빠르고 정확하게 관찰할 수 있도록 합니다. 또한 FEI XL 30은 고급 비전 시스템, 컴퓨터 지원 탐색, 강력한 소프트웨어 등 다양한 고급 기능을 갖추고 있습니다. 고급 비전 (Advanced Vision) 시스템은 고급 옵틱 및 이미지 처리 기술을 사용하여 이미지의 선명도와 명암비를 향상시킵니다. 컴퓨터 지원 탐색 (computer-assisted navigation) 을 통해 사용자는 샘플에서 원하는 기능을 신속하게 찾을 수 있고, 강력한 소프트웨어는 이미지 처리 및 분석 (analysis) 을 쉽게 수행할 수 있습니다. PHILIPS XL30은 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 까다로운 과학 응용 분야에 적합합니다. 고감도 검출기, 자동 샘플 스테이지, 고급 기능을 갖춘 XL 30은 탁월한 성능을 제공하여 연구원과 실험실에 이상적인 선택입니다.