판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #293805730

주사 전자 현미경은 샘플의 구조 및 원소 조성을 이미징 및 분석하기위한 최고의 도구입니다. PHILIPS/FEI XL 30도 예외는 아닙니다. 현장 방출 총을 장착하여 해상도, 성능 및 분석 기능에서 뚜렷한 이점을 제공하는 업계 최고의 SEM (Analytical Scanning Electron Microscope) 입니다. FEI XL 30은 최대 가속 전압 (30 kV) 과 스팟 크기 (300 nm) 를 특징으로하며, 샘플 챔버는 최대 70 도의 편향 각도를 가질 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 도달 (hard-to-reach) 재료 레이어에 액세스할 수 있으므로 하위 미크론 피쳐의 고해상도 분석 및 하향식 이미징이 가능합니다. PHILIPS XL30에는 또한 LMIS (Enhanced Liquid Metal Ion Source) 를 사용하여 분광기를 SEM에 통합하는 티타늄 기반 건이 포함되어 있습니다. 이를 통해 에너지 분산 분광법 (EDS/EDX) 을 통해 광범위한 요소에 대한 정성, 반 정량 및 정량 적 원소 할당이 가능합니다. 고급 소프트웨어 패키지와 사용자에게 편리한 (PHILIPS/FEI XL30) GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 간편하게 작동할 수 있으며, 시스템의 유연성을 통해 광범위한 분석 기능을 최대한 활용할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 자동 입자 분석에서 분광법, 자동 패턴 인식, 자동 방향 (automated orientation) 에 이르기까지 광범위한 소프트웨어 패키지를 제공합니다. 모두 특정 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. 이를 통해 XL30은 샘플 준비, 이미징 및 분석을위한 최적의 솔루션을 제공 할 수 있습니다. 또한 FEI XL30에는 BED (backscatter electron detector) 및 SED (secondary electron detector) 를 포함한 다양한 검출기가 포함됩니다. BED (BED) 는 다양한 샘플 형태와 대조되도록 최적화되어 있으며, SED (SED) 는 샘플 피쳐의 검출을 극대화하는 동시 대비 메커니즘을 제공합니다. 요약하면, XL 30은 정교하고 다재다능하지만 사용자 친화적 인 스캐닝 전자 현미경입니다. 고급 감지 시스템 (Advanced Detection Systems) 과 다양한 샘플 홀더 (Sample Holder) 와 연계된 정교한 소프트웨어 제품군을 제공하며, 이를 최첨단 분석 요구에 적합한 고성능 툴입니다.