판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #293750210
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ID: 293750210
Scanning Electron Microscope (SEM)
GATAN MONO CL System
PC
Does not include:
EDS
Chiller.
PHILIPS/FEI XL 30은 텅스텐 필라멘트를 사용하여 전자를 생성하는 고성능 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 전자는 양극으로 이동하고 정전기 렌즈에 의해 집중되고 가속됩니다. 전자는 조리개 (aperture) 와 격자 (grid) 를 통과하여 질량으로 인해 입자가 샘플에 들어가는 것을 방지합니다. 그 다음 에 전자 를 "빔 '에 집중 시켜서" 샘플' 의 표면 을 스캔 하는 데 사용 한다. 이 스캐닝 (scanning) 과정을 통해 검출기 내부의 포스퍼 (phosphor) 스크린에서 이미지를 구성할 수 있습니다. 그런 다음, 검출기는 입사된 전자를 화면에 이미지화 된 가시광선으로 변환합니다. FEI XL 30에는 고해상도 이미징 기능이 있어 샘플을 자세히 살펴볼 수 있습니다. 현미경은 20 배에서 500,000x 사이의 높은 배율을 가지고 있습니다. 현미경은 또한 EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) 와 같은 다양한 고급 이미징 기능을 제공하여 샘플의 화학 조성 및 고주파 전파를 감지 할 수있는 IAD (Ion Accelerated Detections) 를 분석 할 수 있습니다. 현미경에는 3 차원 공간에서 샘플을 이동, 정위하는 데 사용할 수있는 자동 스테이지가 장착되어 있습니다. 이렇게 하면 샘플 단계를 수동으로 조정하지 않고 샘플의 여러 영역을 스캔할 수 있습니다. (예: 1) 이미징 기능 외에도, 필립스 XL30 (PHILIPS XL30) 은 정성적이고 정량적인 데이터 분석 툴을 제공하며, 이를 통해 수집된 데이터를 더욱 자세히 탐색할 수 있습니다. 이러한 도구 중 일부는 결정질 물질을 검사 할 수있는 CrystalDiffract, 피크 위치를 결정할 수있는 피크 감지 (Peak Detect) 및 과학자들이 공간지도를 보고 분석 할 수있는 MAPS를 포함합니다. 전반적으로, 필립스 XL 30 (PHILIPS XL 30) 은 이미징 및 스캐닝에서 종합적인 데이터 분석에 이르기까지 다양한 기능을 제공하는 강력한 도구입니다. 현미경은 재료, 생물학적 및 의료 연구에 이상적입니다.
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