판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 #293636316

PHILIPS/FEI XL 30은 나노 스케일에서 영상 및 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 재료 및 생물학적 샘플의 표면 지형을 고해상도로 분석하는 데 사용됩니다. 스캐닝 면적이 200 x 350 mm 인 자동 스테이지와 빠른 이미징을위한 Fast Scan 검출기가 특징입니다. 스캔 속도는 최대 500Hz이며 최대 해상도는 1nm/픽셀입니다. 또한 50 Pa 미만의 이미징 샘플을위한 낮은 진공 모드가 장착되어 있습니다. FEI XL 30에는 많은 고급 이미징 기능이 있습니다. 재료의 전기 특성을 측정하는 전자 빔 유도 전류 탐지기 (electron beam-induced current detector) 가 장착되어 있습니다. 또한 EDX (energy dispersive X-ray analysis) 시스템을 사용하여 샘플 표면을 원소 분석할 수 있습니다. 또한, 샘플 특성화를위한 밝은 필드 및 어두운 필드 검출기를 모두 포함합니다. 이미지 처리 기능 외에도 PHILIPS XL30은 다양한 고급 분석 기능을 제공합니다. 여기에는 샘플 레이어의 두께를 측정하는 데 사용할 수있는 백스캐터 (backscatter) 탐지기 (detector) 가 장착되어 있습니다. 결합 된 원소 및 구조 분석 능력은 샘플 표면의 완전한 그림을 제공합니다. 또한 고급 온 축 전자 홀로그래피 (On-axis electron holography) 가 특징이며, 재료의 응력과 균주를 측정 할 수 있습니다. 또한, XL 30에는 샘플 충전으로 인한 이미지 왜곡을 방지하는 charge neutralizer가 있습니다. 즉, 충전되기 쉬운 샘플을 사용해도 정확한 이미징 및 분석이 가능합니다. 또한 저온에서 고해상도 이미징을위한 통합 극저온 단계 (cryogenic stage) 와 상세한 화학 분석을위한 분광 검출기 (spectroscopic detector) 가 특징입니다. 전반적으로 PHILIPS/FEI XL30은 다양한 고급 이미징 및 분석 기능을 갖춘 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 물질과 생물학적 샘플의 특성화에 이상적이며, 연구원들에게 탁월한 통찰력과 이해를 제공합니다.