판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9302635
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ID: 9302635
빈티지: 2000
SFEG TMP Scanning Electron Microscope (SEM)
FEG & Turbo vacuum pump have been replaced
Motorized stages: X, Y, Z, R
Other detectors:
Detector: FEI / Type: FP 6848
Detector: FEI / Type: PW 6761
OXFORD EDS7231 detector:
Material: Silicon-
133 eV
Area: 10 mm²
Heater: 5.1 V
Substrate: 6.2 V
Ramp: 1 fa
Gas type: PT14+
Window type: ATW2
DBC Units: 1128-372
DBS Cable set: 1106-706
Noise / Resolution
PT1: 141 / 185
PT2: 104 / 159
PT3: 80 / 144
PT4: 64 / 136
PT5: 54 / 132
PT6: 50 / 130
Performance test:
Resolution: 131.9 eV FWHM at 5.895k eV (Mn)
Standard deviation: 0.61 eV
120 Cycles
~2000 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion은 고급 이미징 응용 프로그램에 적합한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장비는 자동화된 단계 (Stage) 및 이미지 분석 기능과 통합되어 샘플 조사 과정에서 정확도와 정밀도를 높일 수 있습니다. XL 30은 오랫동안 지속되는 열전자 소스 (thermionic electron source) 와 매우 상세한 샘플 이미지를 캡처하기위한 혁신적인 4k 이미징 기술을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 다양한 작동 매개변수를 가지고 있으며, 낮은 작동 전류 (operating current) 와 낮은 가속 (accelerating) 전압에서도 정확한 이미징 결과를 제공합니다. 이것은 섬세한 샘플을 이미징하는 데 중요합니다. 이미지 처리 기능 측면에서 XL 30은 사용하기 쉬운 2 차 전자 탐지기 (detector) 를 장착하여 사용자에게 놀라운 선명도와 해상도로 실시간 이미지를 캡처할 수 있습니다. 이 장치는 또한 고전압 주사 전자 검출기 (High-Voltage Scanning Electron Detector) 를 자랑하며, 주기율표에 걸쳐 다른 요소를 감지 할 수 있습니다. 또한 기계는 여러 이미징 기술을 지원합니다. BSE (Back-Scattered Electrons) 이미징, EDX (Energy Dispersive X-ray) 매핑 및 라인 스캔 분석. XL 30에는 자동 스테이지 기능이 장착되어 있어 x 방향과 y 방향 모두에서 이미징 중에 샘플을 쉽게 이동할 수 있습니다 (영문). 자동 단계 (Automated Stage) 는 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 이미징 프로세스를 사용자 정의할 수 있습니다. 이 도구는 또한 영상 처리 (imaging) 시 적절한 압력을 보장하기 위해 진공 제어 시스템 (vacuum control systems) 을 갖추고 있으며, 모든 이미징 프로세스가 최고의 품질인지 확인합니다. 고급 이미지 분석 (Advanced image analysis) 기능도 제공되므로 사용자가 신속하게 결과를 조작하고 분석 할 수 있습니다. 이 자산은 또한 강력한 소프트웨어 패키지와 함께 제공되며, 직관적이고 스트레스가없는 방법으로 연구 목표를 달성합니다. 이 모든 것 외에도, FEI XL 30에는 자동 샘플 교환기 (옵션) 가 포함되어 있으므로 사용자는 업무 중단을 최소화하면서 서로 다른 샘플을 빠르고 쉽게 전환 할 수 있습니다. 결론적으로, FEI XL 30 Sirion은 뛰어난 스캐닝 전자 현미경으로, 놀라운 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 자동화된 단계, 오래 지속되는 열전자 소스, 직관적인 사용자 인터페이스 및 다양한 이미징 기술로 인해 모든 연구 프로젝트에 완벽한 선택이되었습니다.
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