판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 30 (ESEM) #293824979

PHILIPS/FEI XL 30은 고급 연구 응용 분야에 이상적인 독특한 고성능 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM은 광범위한 재료에 대한 상세한 고해상도 3D 이미지를 생성합니다. 이 현미경은 매우 정확한 이미징 (imaging) 기능 외에도 다양한 기능과 기능을 제공하여 과학자와 연구원들에게 최고의 선택 (top-of-line) 을 제공합니다. FEI XL 30은 전자원으로 필드 방출 총을 특징으로합니다. 이 총 에는 보다 정밀 하게 전자 "빔 '을 조정 할 수 있도록 특별 히 설계 된 전자" 칼럼' 과 뛰어난 공간 및 "에너지 '해상도 를 갖추고 있다. 이를 통해 나노 미터 크기의 입자, 구조, 세포 하 (subcellular) 기능과 같은 표면 피쳐를 보다 정확하고 자세히 시각화 할 수 있습니다. 한편, 이중 축 수차 교정기는 더 선명하고 정확한 표면 특징과 더 나은 심도 (depth-of-field) 로 상당히 개선 된 이미징을 제공합니다. 현미경은 디지털 신호 프로세서, 프로그래밍 가능한 전압 공급 장치 및 Centris EDX (에너지 분산 x-ray) 검출기를 사용하여 초고해상도 이미지를 제공합니다. 고유 한 EDX 검출기는 또한 화학 원소 분석을 가능하게합니다. 무엇보다도 현미경 틸트 (tilt) 단계가 있는데, 이를 통해 표본을 30도까지 기울일 수 있습니다. 이렇게 하면 비스듬한 각도가 생성되어 기존 이미징 중에 보이지 않는 서피스를 표시할 수 있습니다. 필립스 XL30 (PHILIPS XL30) 의 강력한 이미징 기능을 통해 재료 연구, 반도체 연구, 나노 기술 등 광범위한 연구 작업을 완벽하게 선택할 수 있습니다. 최첨단 기능과 최첨단 성능으로, 세밀하고 정밀하게 자료를 관찰하고 분석할 수 있습니다. 탁월한 이미징 기능을 갖춘 PHILIPS/FEI XL30은 고급 연구에 종사하는 모든 연구소에 꼭 필요한 기능입니다.