판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 20 #9243138

PHILIPS/FEI XL 20은 재료 표면, 입자 및 추적 분석, 형태 및 원소 분석의 영상 및 분석을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 전자빔의 성능과 정확성을 향상시키는 FEG (Field Emission Gun) 가 있어 산업 및 재료 특성 응용 분야에 적합합니다. 이 장비에는 세부 지형 영상이 가능한 in-lens secondary electron detector (SED) 가 장착되어 있습니다. 또한 BSD (Backscattered Electron Detector) 와 이미징의 뛰어난 정밀도를위한 필라멘트 시뮬레이터가 장착되어 있습니다. 이 시스템은 저진공 (low-vacuum) 작동에 최적화되어 다양한 샘플 유형에 대한 액세스를 제공하고 고해상도 (high-resolution) 분석을 가능하게 합니다. FEI XL 20은 x-y 방향으로 최대 2 nm, z 방향으로 4 nm의 해상도를 달성 할 수 있습니다. 205mm 가속 전압을 사용합니다. 즉, 저에너지 (low-energy) 모드와 고에너지 (high-energy) 모드 모두에서 작동 할 수 있으므로 다양한 재료를 샘플링하는 데 적합합니다. 이 장치에는 다양한 샘플 유형과 광범위한 작동 전압에 대한 고감도 이미징/분석을 제공하는 인 렌즈 SE (in-lens SE) 검출기가 있습니다. 마지막으로, 기계는 유연한 진공 작동을 통해 샘플을 초고진공 (UHV) 또는 저진공 환경에서 분석 할 수 있습니다. 이것은 상세한 현미경 및 표면 도량형에서 입자 분석 및 분광학에 이르기까지 다양한 실험 옵션을 제공합니다. 요약하면, PHILIPS XL20은 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 고해상도 이미징, 입자 및 추적 분석, 원소 특성화와 같은 응용 분야에 이상적입니다. 유연성 있는 진공작전 (Vacuum Operation) 과 다양한 탐지기 (Detector) 와 분석 옵션 (Analytical Options) 을 통해 광범위한 산업 및 연구 애플리케이션을 위한 탁월한 선택입니다.