판매용 중고 PHILIPS / FEI XL 20 #9222939
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ID: 9222939
빈티지: 1992
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system
OXFORD INCAx-act X-Ray disperse energy analyzer
Resolution: 100,000x
Spare parts included
Non-functional PC
1992 vintage.
PHILIPS/FEI XL 20 스캐닝 전자 현미경은 표면의 상세한 이미징 및 미세 구조를 제공하는 고급 분석기로, 뛰어난 이미징 성능과 향상된 해상도를 제공합니다. 현미경은 강력한 60kV 전자 소스를 가지고 있으며, 고급 CCD 카메라를 통해 뛰어난 감지 감성을 제공합니다. FEI XL 20은 쉬운 액세스 표본 챔버 및 저렴한 자동화를 통해 간단한 샘플 포지셔닝을 제공합니다. 최대 50,000 배 배율의 고해상도 광학 이미징 (Optical Imaging) 기능을 통해 가장 작은 구조적 세부 사항까지 이미지를 정확하게 캡처할 수 있습니다. 고성능 이미징 및 자동 샘플 처리를 통해 PHILIPS XL20은 연구원에게 달성하기 어려운 결과를 제공합니다. PHILIPS/FEI XL20은 무채색 목적 렌즈, 후면 중심 조절 가능 전자 스캔 렌즈 및 2 차 전자 검출기를 포함하여 4 세그먼트 전자 열로 구성됩니다. 4 세그먼트 열은 더 빠른 이미징 시간을 위해 더 큰 유연성과 더 높은 스캐닝 속도를 제공합니다. FEI XL20은 이미지의 월등한 명암과 선명도를 위해 4 중 (quadrupole) 초점 광학을 사용하는 통합 시스템입니다. 또한, PHILIPS XL 20에는 고급 이미지 분석 및 자동 작동 기능을위한 내장 신호 프로세서가 포함되어 있습니다. 신호 프로세서 패키지는 입자 이미지 상관 관계, 스펙트럼 분석, 자동 이미지 스티칭, 자동 이미지 자르기 및 추출, 강력한 이미지 분석 및 조작을 위한 기타 자동 도구 등의 기능을 제공합니다. 고해상도 이미지를 처리하고, 고품질 결과를 신속하고 정확하게 제공할 수 있는 기능으로, XL20은 강력하고 안정적인 이미징 시스템입니다. XL 20은 매우 다재다능하고 강력한 듀얼 프레임 스캐닝 전자 현미경입니다. 뛰어난 이미징 기능, 자동화된 기능, 고속 스캔, 강력한 처리 기능을 갖춘 PHILIPS/FEI XL 20은 고급 나노 구조 이미징 및 도량형 어플리케이션에 이상적인 선택입니다. 사용 편의성과 TCO (총소유비용) 가 낮기 때문에 실험실이나 연구 응용프로그램을 위한 완벽한 선택이다.
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