판매용 중고 PHILIPS / FEI Versa 3D #293670274

PHILIPS/FEI Versa 3D는 정교하고 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 으로, 광범위한 과학 및 산업 응용 분야에 대한 고급 이미징 기능과 분석 기능을 제공합니다. 이 최첨단 기기는 전자 현미경 기술의 유명한 리더 인 테르 모 피셔 사이언티픽 (Thermo Fisher Scientific) 이 설계하고 제조했습니다. FEI Versa 3D의 핵심에는 높은 밝기와 안정성을 제공하는 필드 방출 전자 소스 (field emission electron source) 가 있어 뛰어난 신호 대 잡음 비율로 고해상도 이미징이 가능합니다. 현미경의 전자 광학 시스템 (Electron Optics System) 은 최대 빔 전류 (Beam Current) 및 스팟 크기 제어 (Spot Size Control) 에 최적화되어 다양한 확대율에서 뛰어난 이미징 성능을 제공합니다. PHILIPS Versa 3D는 X, Y, Z 변환 및 기울기 기능을 포함하여 여러 치수에서 샘플 조작을 가능하게 하는 다양한 단계를 특징으로합니다. 이 고급 단계 설계를 통해 정확한 샘플 포지셔닝 및 이미지 처리/분석 작업을 손쉽게 수행할 수 있습니다. 또한, 현미경에는 자동화된 빔 정렬, 초점 (focus), 낙인 찍기 (stigmation) 와 같은 고급 자동화 기능이 장착되어 있어 운영 능률과 워크플로우 효율성을 향상시킵니다. Versa 3D의 핵심 강점 중 하나는 3D 이미징 기능으로, 사용자는 자세한 지형 정보를 수집하고 구조를 3 차원으로 시각화할 수 있습니다. 이것은 스테레오 이미징 (stereo imaging), 단층 촬영 (tomography) 및 슬라이스 앤 뷰 (slice-and-view) 기술과 같은 고급 이미징 모드를 통해 이루어집니다. 고해상도 이미징 외에도, PHILIPS/FEI Versa 3D는 다양한 분석 기능을 제공하여 재료 특성 및 연구를위한 다양한 도구를 제공합니다. 현미경에는 원소 분석 및 매핑을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 검출기와 결정 학적 분석을위한 전자 역 산란 회절 (EBSD) 이 장착되어 있습니다. 이러한 분석 기술을 통해 사용자는 정밀도가 높은 샘플에서 화학 성분, 결정 구조, 위상 분포를 식별 할 수 있습니다. 또한, FEI Versa 3D에는 데이터 획득, 처리 및 분석을위한 고급 소프트웨어가 장착되어 있으며, 이미징 및 분석 실험에서 의미있는 통찰력과 양적 결과를 얻을 수 있습니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 사용자 정의 가능한 워크플로우 (workflow) 를 통해 연구원들은 현미경 설정을 특정 요구에 맞게 조정하고 연구 목표에 맞게 데이터 입수를 최적화할 수 있습니다. 전반적으로 PHILIPS Versa 3D 스캐닝 전자 현미경은 다양한 재료와 샘플의 고해상도 이미징, 3D 시각화, 분석 특성화를위한 최첨단 플랫폼을 나타냅니다. 고급 이미징 기능, 다양한 단계 설계, 통합 분석 기능을 갖춘 Versa 3D는 재료 과학, 나노 기술, 생명 과학, 반도체 산업 등의 분야에서 일하는 연구원, 과학자, 엔지니어를위한 강력한 도구입니다.