판매용 중고 PHILIPS / FEI V600 #293775824

PHILIPS / FEI V600
ID: 293775824
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI V600은 고급 이미징 및 분석을위한 고급 기능을 갖춘 현대 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEI V600은 최대 가속 전압 (최대 30kV) 과 이미징을위한 다양한 기능을 갖추고 있으며, 샘플 크기는 최대 300mm x 300mm입니다. 고대비 이미징을위한 특수 나이팅게일 충전 탐지기 (Nightingale Charged Detector) 를 사용하여 최대 100,000 배율의 이미지를 생성하고 1nm 정도의 해상도를 제공합니다. 이 장치에는 통합 에너지 분산 X-ray (EDX) 마이크로 분석 시스템이 있으며, 요소를 Pb 및 Mo까지 감지 할 수 있습니다. 이 기계는 또한 0.6mm ~ 300mm (샘플 홀더 범위) 의 자동 스테이지 제어 및 이벤트 로깅 시스템을 갖추고 있습니다. 또한 PHILIPS V 600에는 고급 이미지 분석 소프트웨어와 3D 마이크로 분석을위한 고급 이미징 도구 인 Focusbeam CAD가 장착되어 있습니다. 직접 이미징을위한 광학 줌이있는 2 개의 사용 가능한 디지털 카메라가 있습니다. FEI V 600은 견고한 스테인리스 스틸 (Stainless-Steel) 디자인과 컴팩트한 설치 공간을 갖추고 있어 높은 정확도와 유연성을 필요로 하는 어플리케이션에 적합합니다. 경사 (tilt) 및 회전 (rotation) 각도로 실행할 수 있으며 반도체 고장 조사, 재료 및 표면 분석, 공정 제어, 생명 과학 등 다양한 응용 프로그램에서 사용할 수 있습니다. 샘플 준비를 위해 PHILIPS/FEI V 600에는 진공 척, 음향 광학 시스템, 광학 현미경, 가스 분사 시스템, 극저온 보유자 및 온도 조절 환경 챔버와 같은 광범위한 액세서리가 있습니다. 또한 준비 마운트, 스퍼터 코터 (sputter coater), 플렉스 척 (flex chuck) 과 같은 다양한 샘플 홀더를 수용하여 샘플의 시각적 특성을 조작할 수 있습니다. 마지막으로, 필립스 V600 (PHILIPS V600) 은 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공하므로 사용자가 필요한 설정을 신속하게 설정하고 최소한의 노력으로 원하는 결과를 얻을 수 있습니다. 게다가, 서비스/유지 보수 절차는 간단하여, 장치를 가장 쉽게 실행할 수 있습니다.
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