판매용 중고 PHILIPS / FEI V600 #293763996

PHILIPS/FEI V600 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 재료 분석을위한 다재다능하고 강력한 워크 호스 장비입니다. 이 도구는 현대 광학, 개선 된 챔버 디자인, 고급 스캐닝 전자 제품 (Scanning Electronics) 으로 인해 기능을 1 나노 미터 (Nanometer) 까지 해결할 수 있습니다. 이 제품은 초고해상도 이미징, 통합 3D 이미징, 자동 이미지 획득 및 처리, 데이터 해석 및 분석을위한 포괄적인 소프트웨어 제품군을 갖추고 있습니다. FEI V600은 개방형 아키텍처 (open-architecture) 설계를 통해 광범위한 검출기와 보조 시스템을 주 광학 및 스캔 시스템과 통합할 수 있습니다. 여기에는 에너지 분산 X-ray (EDX) 검출기, 전체 필드 검출기, 이미지 기반 정렬 기술을 갖춘 자동 u 빔 리소그래피 도구, 화학 조성 및 깊이 프로파일링을위한 EscaLam 충전 입자 분석기 및 렌즈 내 가변 압력 X-ray 장치. 필립스 V 600 (PHILIPS V 600) 은 또한 고해상도 피에조-전기 검출기 (PDS) 를 통합하여 표본 무대 움직임을 매우 정확하게 제어 할 수 있으며, 이중 빔 입사각 도구를 사용하여 이미지를 동시에 여러 각도로 얻을 수 있습니다. 이 자산은 샘플 재료의 표면 지형에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. 또한 MCAV (multi-column accelerating voltage) 모델을 사용하면 이미지 적용 시 최적의 가속 전압을 선택할 수 있습니다. 필립스 V600 (PHILIPS V600) 에는 개폐식 환경장 방출 전자 총 (FEG) 이 있는데, 이는 실내에서 매우 높은 진공 조건을 만드는 데 사용됩니다. 여러 가스 제어 시스템과 같은 추가 환경 액세서리 덕분에 PHILIPS/FEI V 600은 다른 SEM 시스템보다 더 낮고 높은 압력으로 작동 할 수 있습니다. 이것은 절연 및 비 전도성 표본과 같은 다른 유형의 표본을 분석 할 때 유익합니다. 전반적으로 FEI V 600 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 재료 분석을위한 고급 기능이 풍부한 장비로, 고품질 이미징과 뛰어난 정확도를 모두 제공합니다. 사용자 친화적인 개방형 아키텍처 (open-architecture design) 를 통해 다양한 검출기, 액세서리 (accessory) 와 손쉽게 통합할 수 있으며, 이 기능은 다양한 어플리케이션을 포괄할 수 있는 다용성과 유연성을 제공합니다.